[发明专利]一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法

权利要求书

1.一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、安装被测运算放大器

将被测运算放大器的电源端VCC和接地端VEE连接恒定电压源，正相输入端Vin+连接扫描电压源，负相输入端Vin-连接恒定电压源，输出端Vout连接电压监测端；

步骤二、设置测量参数

设定与负相输入端Vin-连接的恒定电压源输出值为0V或规定值；

依据被测运算放大器的器件手册和辐照后失调电压的漂移量，设置扫描电压源的扫描电压范围；

步骤三、测试被测运算放大器

3.1)与负相输入端Vin-连接的恒定电压源输出0V或规定值，扫描电压源依照步骤二确定的扫描电压范围输出扫描电压；

3.2)实时监测正相输入端Vin+的电流值、负相输入端Vin-电流值，电源端VCC和接地端VEE的电流值、输出端Vout的电压值；

3.3)根据步骤3.2)得到的监测值，获得输出端Vout电压值随扫描电压的变化曲线、正相输入端Vin+电流值随扫描电压的变化曲线、负相输入端Vin-电流值随扫描电压的变化曲线；

步骤四、提取敏感参数

敏感参数包括偏置电流Iib、失调电流Iio、电源电流ICC、失调电压Vio、输入高电平V_OH、输出低电平V_OL；

偏置电流

失调电流Iio＝|Iib_{_}-Iib₊|；

电源电流ICC为电源端VCC和接地端VEE的电流值；

失调电压Vio为输出端Vout电压为0时，此时输出端Vout电压值随扫描电压的变化曲线所对应的扫描电压值；

输入高电平V_OH为输出端Vout电压值随扫描电压的变化曲线的电压最高值；

输出低电平V_OL为输出端Vout电压值随扫描电压的变化曲线的电压最低值；

其中：输出端Vout电压为0时，确定该点对应的扫描电压，根据该扫描电压，得到正相输入端Vin+电流值随扫描电压的变化曲线上的电流值，该电流即为Iib₊；

输出端Vout电压为0时，确定该点对应的扫描电压，根据该扫描电压，得到负相输入端Vin-电流值随扫描电压的变化曲线上的电流值，该电流即为Iib_{_}。

2.根据权利要求1所述的运算放大器辐射敏感参数的测量方法，其特征在于，步骤3.1)中，扫描电压源依照步骤二确定的扫描电压范围具体为：扫描电压从-100mV～0mV扫描至0mV～100mV，每5uV～1mV一个测量点进行测试。

3.根据权利要求1或2所述的运算放大器辐射敏感参数的测量方法，其特征在于：步骤一中，被测运算放大器为双运算放大器或四运算放大器，采用矩阵开关或者继电器进行正相输入端Vin+、负相输入端Vin-和输出端Vout的切换。

4.根据权利要求3所述的运算放大器辐射敏感参数的测量方法，其特征在于：步骤一中，电源端VCC和接地端VEE连接恒定电压源为单电源或双电源。