[发明专利]一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法

说明书

本发明公开了一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法，其中，该方法包括：在常温环境下，对电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录现场试验后的性能参数；确定电子整机的加速因子；根据加速因子和电子整机的现场试验时长，计算电子整机进行实验室试验的时长；在高温环境应力下，对电子整机进行实验室试验，并记录实验室试验后的性能参数；分析电子整机现场试验后的性能参数和实验室试验后的性能参数，计算电子整机的试验故障数以及故障类别；根据电子整机的试验故障数和故障类别，确定电控系统的可靠性。通过本发明，不仅能够缩短试验周期，而且能够准确的检测出产品的故障，有利于研发人员更好的对产品的电控系统进行改进，提高产品质量。

技术领域

本发明涉及可靠性试验技术领域，特别涉及一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法。

背景技术

随着市场竞争的愈加激烈，在民用家电产品领域，高可靠长寿命产品越来越多。如果采用常规的可靠性、寿命试验方法去评估产品的可靠性、寿命特征，往往需要耗费难以承受的时间成本，甚至还来不及做完试验，该产品就已经更新换代或因为性能落后而被淘汰。显然，如此长的试验时间，不仅错失了产品可靠性提升的最佳时机，而且严重地影响了研发的进度，在工程实际中是难以接受的。因此，采用加速寿命试验的方法进行可靠性、寿命等指标的评估则就显得既必要又重要。

发明内容

本发明提供一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法，不仅能够缩短试验周期，而且能够准确的检测出产品的故障，有利于研发人员更好的对产品的电控系统进行改进，提高产品质量。

根据本发明的一个方面，提供了一种仪器电控系统的可靠性指标考核方法，包括以下步骤：

在常温环境下，对所述电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录所述电子整机现场试验后的性能参数；

确定所述电子整机的加速因子；

根据所述加速因子和所述电子整机的现场试验时长，计算所述电子整机进行实验室试验的时长；

在高温环境应力下，对所述电子整机进行实验室试验，并记录所述电子整机实验室试验后的性能参数；

分析所述电子整机现场试验后的性能参数和实验室试验后的性能参数，计算所述电子整机的试验故障数以及故障类别；

根据所述电子整机的试验故障数以及故障类别，确定所述电控系统的可靠性。

优选地，在常温环境下，对所述电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录所述电子整机现场试验后的性能参数之前，该方法还包括以下步骤：

检查所述电控系统所属电子整机的外观并测试所述电子整机的技术状态；判断所述电子整机是否为合格产品；

如果是，则执行在常温环境下，对所述电控系统所属电子整机进行现场试验，并记录所述电子整机现场试验后的性能参数的步骤。

优选地，确定所述电子整机的加速因子，包括以下步骤：

对所述电子整机包含的若干个电子元器件进行分类并统计数量；

分别查找各类电子元器件的基本失效率和激活能数据；

建立所述电子整机的工作可靠性模型和加速寿命试验模型；

在工作试验条件下，根据各类电子元器件的数量以及基本失效率，计算各类电子元器件的总失效率；

根据所述电子整机的工作可靠性模型，计算所述电子整机的失效率；

根据所述电子整机的加速寿命试验模型，在加速工作试验条件下，根据各类电子元器件的数量以及激活能数据，计算各类电子元器件的总失效率；

根据所述电子整机的工作可靠性模型，计算所述电子整机的失效率；