[发明专利]火花塞的检查方法及火花塞的制造方法

说明书

本发明提供一种火花塞的检查方法及火花塞的制造方法，提高并行地进行多个绝缘体的缺陷的检查的情况下的检查精度。准备多个组装体，并向各自的中心电极施加预定电压。通过不同的电压传感器来检测向各中心电极施加的电压，并计算对由各电压传感器检测出的电压分别以时间进行微分而得到的微分值。判定是否产生了微分值的绝对值成为预先规定的阈值以上的微分值变动状态。基于对产生了微分值变动状态的中心电极从微分值变动状态的产生起在一定时间内施加的施加电压，判定微分值变动状态是否由噪声引起。

技术领域

本发明涉及一种火花塞的检查方法及火花塞的制造方法。

背景技术

以往的火花塞通常具备：具有沿着轴线延伸的轴孔的绝缘体、配置在轴孔内并且自身的一部分从绝缘体的前端侧露出的中心电极、以覆盖绝缘体的至少一部分的周围的方式设置在绝缘体的外周的主体配件及连接于主体配件的前端侧并且弯曲以在上述接地电极与中心电极之间形成火花放电间隙的接地电极。该火花塞通过向中心电极施加高电压而在中心电极的前端部与接地电极之间产生火花放电。

但是，在这种火花塞中，当绝缘体产生了开裂时，有可能通过该开裂部分从中心电极向主体配件贯通放电而变得不在中心电极与接地电极之间进行正规的放电。因此，在专利文献1的技术中，将对这样的贯通放电进行检查的方法纳入为制造方法的一个工序。

在专利文献1所公开的检查方法中，在使接地电极弯曲之前的状态下向中心电极施加检查用的高电压，并判断是否有可能在中心电极与主体配件之间产生了贯通放电。是否有可能产生了贯通放电的判断，通过持续地对施加于中心电极的施加电压进行检测并且对以时间对该检测值进行了微分而得到的微分值与阈值进行比较来进行，在微分值的绝对值成为阈值以上的情况下，判断为有可能产生了贯通放电。

现有技术文献

专利文献1：日本特开2017-27726号公报

发明内容

在这样的检查中要求效率性，作为一个解决方法，可想到使用多个检查单元来一次性地对多个绝缘体进行检查。但是，在使用多个检查单元来进行检查的情况下，由某个检查单元中施加的电压有可能在其他检查单元中生成为噪声。在产生了噪声的情况下，上述微分值的绝对值变大，因此有可能尽管实际上未产生贯通放电，也错误地判断为产生了贯通放电。

本发明是为了解决上述课题中的至少一个课题而作出的，其所要解决的课题是提高并行地进行多个绝缘体的检查的情况下的检查精度。

作为本发明的第一技术方案的火花塞的检查方法，包括对绝缘体的缺陷进行检查的检查工序，

在上述检查工序中进行如下的工序：

准备工序，准备多个组装体，上述组装体具备具有沿着轴线延伸的轴孔的上述绝缘体、配置在上述轴孔内并且自身的一部分从上述绝缘体的前端侧露出的中心电极、以覆盖上述绝缘体的至少一部分的周围的方式设置在上述绝缘体的外周的主体配件及与上述主体配件的前端侧连接的接地电极；

施加工序，对在上述准备工序中准备的多个上述组装体各自的上述中心电极施加预定电压；

检测工序，通过与各上述中心电极对应的各电压传感器检测至少在进行上述施加工序的期间向多个上述中心电极分别施加的各施加电压；

微分工序，计算对在上述检测工序中多个上述电压传感器检测出的各施加电压分别以时间进行微分而得到的各微分值；

微分值判定工序，判定是否产生了在上述微分工序中计算出的任一个微分值的绝对值成为预先规定的阈值以上的微分值变动状态；及

噪声判定工序，在通过上述微分值判定工序判定为产生了上述微分值变动状态的情况下，基于对产生了上述微分值变动状态的上述中心电极从上述微分值变动状态的产生起在一定时间内施加的施加电压，来判定上述微分值变动状态是否由噪声引起。