[发明专利]一种基于高阶谱和卷积神经网络的心冲击信号的分类方法在审
申请号: | 201910690101.9 | 申请日: | 2019-07-29 |
公开(公告)号: | CN110327055A | 公开(公告)日: | 2019-10-15 |
发明(设计)人: | 王子民;曾利;蒙玉洪;王钰萌;覃军焱;蓝如师;刘振丙 | 申请(专利权)人: | 桂林电子科技大学 |
主分类号: | A61B5/11 | 分类号: | A61B5/11;A61B5/00 |
代理公司: | 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 | 代理人: | 杨雪梅 |
地址: | 541004 广*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 心冲击信号 高阶谱 卷积神经网络 特征信息 训练样本 分类 预处理 高斯有色噪声 时移不变性 尺度变化 二维模板 泛化性能 分类结果 获取数据 匹配问题 切比雪夫 特征分析 特征提取 相位保持 小波变换 信号信息 有效解决 数据集 构建 滤波 去噪 保留 应用 | ||
1.一种基于高阶谱和卷积神经网络的心冲击信号的分类方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1、获取数据集训练样本;
S2、采用切比雪夫和小波变换的滤波方法对步骤S1获得的数据集训练样本进行去噪预处理,得到纯净的心冲击信号;
S3、对步骤S2得到的心冲击信号进行高阶谱特征分析,得到信号的幅值和相位的特征信息;
S4、构建卷积神经网络模型,将步骤S3得到的特征信息,作为卷积神经网络模型的输入,得到分类结果。
2.根据权利要求1所述的一种基于高阶谱和卷积神经网络的心冲击信号的分类方法,其特征在于,步骤S1中,所述的数据集训练样本,是运用设计的心冲击信号硬件采集电路采集,采用美国MEAS研制的PVDF压电薄膜作为采集BCG信号的传感器。
3.根据权利要求1所述的一种基于高阶谱和卷积神经网络的心冲击信号的分类方法,其特征在于,步骤S2中,所述的预处理,包括如下步骤:
S2-1、采用切比雪夫滤波器对数据集训练样本滤波,具体是采用截止频率为0.75Hz的高通滤波器消除呼吸趋势项,采用截止频率为30Hz的低通滤波器消除电路中产生的高频电磁噪声,采用50Hz陷波滤波器消除工频干扰,得到切比雪夫滤波后的信号;
S2-2、小波变换:首先选择sym8小波基对切比雪夫滤波后的信号进行6阶小波变换,然后根据不同信号的特点,采用软硬阈值折衷法阈值函数,最后重构经过阈值处理的小波系数,获得较为纯净的信号。
4.根据权利要求1所述的一种基于高阶谱和卷积神经网络的心冲击信号的分类方法,其特征在于,步骤S3中,所述的高阶谱特征分析,也就是双谱,包括如下步骤:
S3-1、对心冲击信号进行双谱分析运算,双谱定义为:
上式就是对随机变量x的3阶累计量c3x,再进行傅里叶变换得到3阶累积量谱Bx(ω1,ω2)。其中ω是圆频率,圆频率是一秒钟转过的弧度数,且ω=2πf,f为信号频率,τ为信号周期,傅里叶变换定义为
S3-2、对步骤S3-1定义的双谱进行双谱估计,双谱估计方法包括参数法和非参数法,非参数法中包含双谱直接估计法和双谱间接估计法,直接法的具体流程如下:
S3-2-1、将输入的心冲击信号分成K段,以BCG信号采集频率2000的倍数截取;
S3-2-2、先估计各段心冲击信号的Fourier序列,再计算各段心冲击信号的三阶累积量的估计值,取估计值的平均值作为实验数据组;
S3-2-3、在matlab上编程得到心冲击信号的双谱三维图,分析谱峰值的集中与分散程度;
S3-3、从步骤S3-1的双谱定义式中,得出双谱为复值函数,具有幅值和相位,可以将幅值和相位的作为分类的特征。
5.根据权利要求4所述的一种基于高阶谱和卷积神经网络的心冲击信号的分类方法,其特征在于,步骤S3-2中,所述的双谱估计,最优窗选择64,双谱输出为128×128大小的矩阵,根据双谱对称性质,取其左上角64×64大小的矩阵表示双谱特性,并分别计算双谱的幅度值和相位值。
6.根据权利要求1所述的一种基于高阶谱和卷积神经网络的心冲击信号的分类方法,其特征在于,步骤S4中,所述的输入,是以双谱的幅度值和相位值生成的矩阵作为卷积神经网络的输入,输入前对信号的双谱特征进行能量归一化处理,并设置标签标注信号所属的类别,得到用于网络训练和测试的数据集,在用于网络训练和测试的数据集中随机抽取每种信号总量的1/4样本作为训练集,余下的样本作为测试样本。
7.根据权利要求1所述的一种基于高阶谱和卷积神经网络的心冲击信号的分类方法,其特征在于,步骤S4中,所述的卷积神经网络模型为一维卷积神经网络模型,网络框架包括:一个输入层,两个卷积层,两个池化层,一个全连接层,一个输出层,优化一维卷积神经网络模型,优化参数为:
(1)优化卷积核的尺寸;
(2)在卷积核尺寸参数确定的条件下,设置不同的学习率;
(3)在卷积核尺寸、学习率等参数确定的条件下,设置迭代次数和批量大小。
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