[发明专利]一种模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法

说明书

本发明提出了一种模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法，设置被测锂电池充电芯片以及第一、第二两个电压源和一个电流源构成的测试系统，第一电压源和电流源共同连接在被测锂电池充电芯片的输出端，用于模拟替代锂电池并模拟锂电池先恒流再恒压的充电特性，第二电压源连接在被测锂电池充电芯片的输入端，用于给被测锂电池充电芯片供电，提供充电电流。

技术领域

本发明涉及一种模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法，属于锂电池充电技术领域。

背景技术

随着便携式电子产品的广泛使用于工作和生活的各个方面，锂电池的应用也日益广泛。现有的针对锂电池充电芯片的测试方法主要有两种，一种是直接采用锂电池，但缺点是锂电池充电时间长，测试周期长，不能快速得到测试结果，还有就是锂电池反复测试会减小电池的寿命；另一种方法是特定的测试版，需要单片机控制电路，分别控制电压配置网络和电流配置网络、恒压电子负载、基准电压电路、隔离通道等等，测试系统复杂。如图1所示传统的测试方法，框图中的电路都需要特定的设备来支持，整个系统搭建下来，需要构建一个昂贵的大型设备，不利于个人操作。

发明内容

本发明为解决现有技术的缺陷，提供一种模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法，该方法是一种简易的模拟锂电池的测试方法，个人可以在短时间内就可以测得锂电池充电芯片的性能。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：一种模拟锂电池测试锂电池充电芯片的方法，其特征在于：设置被测锂电池充电芯片以及第一、第二两个电压源和一个电流源构成的测试系统，第一电压源和电流源共同连接在被测锂电池充电芯片的输出端，用于模拟替代锂电池并模拟锂电池先恒流再恒压的充电特性，第二电压源连接在被测锂电池充电芯片的输入端，用于给被测锂电池充电芯片供电，提供充电电流；若全过程模拟锂电池充电流为IBAT，第一电压源提供充电电流为IV1，电流源提供电流为IC1，则实时的充电电流为IBAT＝IC1-IV1，读取第二电压源的输出电流即是实时的充电电流IBAT。

当锂电池电压低于涓流充电电压时，以额定电流的一定比例开始涓流充电；当锂电池电压大于涓流充电电压时，以额定的电流充电；当锂电池电压接近标称电压值时，转入恒压充电模式，此时充电电流开始减小，直至最终关断；充电电流关断后，如果锂电池开始放电，锂电池电压开始下降，当锂电池电压再次下降到低于涓流充电电压时，开始再次涓流充电以及后续的恒压充电及放电过程，最终被测锂电池充电芯片输出电流减小的部分由第一电压源来提供，以保持测试系统的稳定性。

设置锂电池充电芯片的最大充电电流为一个额定值IMAX，电流源提供的电流IC1要大于IMAX，第一电压源的最大电流限流值Ilimit1要大于电流源电流IC1，即Ilimit1IC1，而第二电压源的最大电流限流值Ilimit2要大于IMAX，即Ilimit2IMAX；通过调节第一电压源的电压值，能够短时间内模拟锂电池充电时电压上升的完整过程。

所述锂电池充电芯片测试的具体过程如下：

步骤1，通过不断上调第一电压源电压，同时观察第一电压源的输出电流，得到完整的从恒流充电到恒压充电的全过程，并测试到锂电池充电芯片的充电截止电压；当第一电压源的电压低于涓流充电电压时，读取第二电压源的输出电流即充电电流，此时的充电电流为额定充电电流的一定比例，充电状态为小电流的涓流模式；当第一电压源的电压上升到大于涓流充电电压时，读取第二电压源的输出电流即充电电流为额定充电电流，充电状态为恒流模式，并且该恒流模式持续到第一电压源电压接近电池标称电压；此后，随着第一电压源电压继续上升，充电电流继续减小，当充电电流减小到零时充电结束，为充电标称电压值；

步骤2，将第一电压源的电压开始下调，当观察到重新有充电电流时，重复步骤1再次完成充电，有效地模拟锂电池的完整充电过程，准确评价锂电池充电芯片的性能。

所述第一、第二两个电压源可采用ITECH IT6322，电流源采用Chroma 63600-1。