[发明专利]一种测距线性定位算法有效

专利信息
申请号: 201910660147.6 申请日: 2019-07-22
公开(公告)号: CN110333536B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 黄玉;武立华;万博文;沈莹;于强;高俊奇 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: G01V3/08 分类号: G01V3/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 测距 线性 定位 算法
【权利要求书】:

1.一种测距线性定位算法,其特征在于,具体的实现步骤为:

步骤1:根据阵列的八个三轴磁强计对磁性体磁场的测量值,计算点Pn处磁性体磁梯度张量的5个独立分量的测量值;

其中分别为磁性体在点Pn,n=0,1,...,6,处的磁梯度张量的5个独立分量,为角度矩阵,为相对测量值矩阵;

步骤2:由点Pn处磁性体磁梯度张量的5个独立分量的测量值计算点Pn处磁梯度张量的测量值

步骤3:将磁梯度张量测量值和分为三个组,即和由三组磁梯度张量测量值分别计算点P1和P2、P3和P4、P5和P6与磁性体之间的距离;

步骤4:由点Pn与磁性体之间的距离组成线性方程组,n≠0;

式中,和为磁性体的位置坐标,x、y和z方向上的正六面体边长分别为Lx、Ly和Lz,点Pn,n≠0,与磁性体之间的距离分别为

步骤5:由线性方程组计算磁性体的位置坐标值;

2.根据权利要求1所述的一种测距线性定位算法,其特征在于,所述步骤3的具体步骤为:

步骤3.1:计算的特征值λi和特征向量vi,计算的特征值λj和特征向量vj,i≠j;(i,j)={(1,2),(3,4),(5,6)};

步骤3.2:计算余弦值;

式中,λi1表示的第1个特征值;λi2表示的第2个特征值;λi3表示的第3个特征值;λj1表示的第1个特征值;λj2表示的第2个特征值;λj3表示的第3个特征值;

步骤3.3:计算磁性体磁矩的单位矢量

式中,cij=(vi22vj23-vi23vj22)/(vi21vj22-vi22vj21),dij=(vi21vj23-vi23vj21)/(vi21vj22-vi22vj21),vi21为的第2个特征值的第1个分量;vi22为的第2个特征值的第2个分量;vi23为的第2个特征值的第3个分量;vj21为的第2个特征值的第1个分量;vj22为的第2个特征值的第2个分量;vj23为的第2个特征值的第3个分量;

步骤3.4:计算点Pi相对于磁性体的位矢的单位矢量

其中,vi2x为的第2个特征值的x方向分量;vi2y为的第2个特征值的y方向分量;vi2z为的第2个特征值的z方向分量;

步骤3.5:和分别为位矢的x、y和z分量,计算出和再计算点Pi与点Q之间的距离

式中,±是任意选取的,dijx、dijy和dijz分别为Pj相对于Pi的位矢的x、y和z方向分量。

3.根据权利要求1所述的一种测距线性定位算法,其特征在于,所述步骤1的阵列为:在上层安装板和下层安装板分别安装四个三轴磁强计,八个三轴磁强计对应的敏感轴相互对齐,构成正六面体阵列。

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