[发明专利]一种内螺距测量仪及内螺距测量方法有效

专利信息
申请号: 201910620663.6 申请日: 2019-07-10
公开(公告)号: CN110186382B 公开(公告)日: 2020-10-13
发明(设计)人: 曹军胜;高志坚;任绍敬;宋丽民;代媛媛;钟海文;宁永强 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 田媛媛
地址: 130033 吉林省长春市*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 螺距 测量仪 测量方法
【权利要求书】:

1.一种内螺距测量仪,其特征在于,包括:

固定装置,用于固定待测工件;

带有支撑杆的图像采集设备,用于获取所述待测工件的内壁图像,并将所述内壁图像发送至与所述图像采集设备相连的计算机,其中,所述图像采集设备贴在所述待测工件的内壁以获取所述待测工件的所述内壁图像;

所述计算机,用于显示所述内壁图像,并利用辅助标线获取内螺纹边缘的位置坐标,确定内螺距,所述内螺距的确定过程为:

所述辅助标线的位置随所述图像采集设备的移动而改变,所述图像采集设备在所述待测工件内部移动获取内壁图像过程中,所述计算机的界面实时显示所述内壁图像,并且所述辅助标线的位置也发生变化,当所述辅助标线与内螺纹的一条边缘重合时,记录当前的位置坐标为Y1,所述图像采集设备继续移动,当所述辅助标线与内螺纹的另一条边缘重合时,记录当前的位置坐标为Y2,则内螺距D=Y2-Y1,内螺距即为所述图像采集设备的位移量。

2.如权利要求1所述的内螺距测量仪,其特征在于,所述固定装置包括:

测量平台,所述测量平台具有贯穿厚度的通孔;

位于所述测量平台上表面的固定卡口,用于将所述待测工件固定于所述测量平台,其中,所述通孔位于所述固定卡口的范围内。

3.如权利要求2所述的内螺距测量仪,其特征在于,还包括:

与所述图像采集设备和所述计算机相连的升降装置,用于调整所述图像采集设备在所述待测工件的轴向位置。

4.如权利要求2所述的内螺距测量仪,其特征在于,还包括:

与所述图像采集设备和所述计算机相连的平移装置,用于调整所述图像采集设备与所述固定卡口的相对位置。

5.如权利要求1至4任一项所述的内螺距测量仪,其特征在于,所述图像采集设备为高清图像采集设备。

6.一种内螺距测量方法,其特征在于,包括:

利用固定装置将待测工件进行固定;

将带有支撑杆的图像采集设备置于所述待测工件的内腔,获取所述待测工件的内壁图像,并将所述内壁图像发送至与所述图像采集设备相连的计算机,其中,所述图像采集设备贴在所述待测工件的内壁以获取所述待测工件的所述内壁图像;

所述计算机显示所述内壁图像,并利用辅助标线获取内螺纹边缘的位置坐标,确定内螺距,所述内螺距的确定过程为:

所述辅助标线的位置随所述图像采集设备的移动而改变,所述图像采集设备在所述待测工件内部移动获取内壁图像过程中,所述计算机的界面实时显示所述内壁图像,并且所述辅助标线的位置也发生变化,当所述辅助标线与内螺纹的一条边缘重合时,记录当前的位置坐标为Y1,所述图像采集设备继续移动,当所述辅助标线与内螺纹的另一条边缘重合时,记录当前的位置坐标为Y2,则内螺距D=Y2-Y1,内螺距即为所述图像采集设备的位移量。

7.如权利要求6所述的内螺距测量方法,其特征在于,所述利用固定装置将待测工件进行固定包括:

利用固定卡口将所述待测工件固定在测量平台的上表面,其中,所述测量平台具有贯穿厚度的通孔,且所述通孔位于所述固定卡口的范围内。

8.如权利要求7所述的内螺距测量方法,其特征在于,所述将带有支撑杆的图像采集设备置于所述待测工件的内腔包括:

所述计算机发送上升指令至升降装置,以便所述升降装置调整所述图像采集设备在所述待测工件的轴向位置,使所述图像采集设备置于所述待测工件的内腔。

9.如权利要求8所述的内螺距测量方法,其特征在于,在所述计算机发送上升指令至升降装置,以便所述升降装置调整所述图像采集设备在所述待测工件的轴向位置之前,还包括:

所述计算机发送平移指令至平移装置,以便所述平移装置平移所述图像采集设备,使所述图像采集设备位于所述固定卡口的中心位置。

10.如权利要求8或9所述的内螺距测量方法,其特征在于,在所述计算机显示所述内壁图像,并利用辅助标线获取内螺纹边缘的位置坐标,确定内螺距之后,还包括:

所述计算机发送下降指令至所述升降装置,以便所述升降装置将所述图像采集设备移出所述待测工件的内腔。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910620663.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top