[发明专利]显示控制装置、内窥镜系统、显示控制方法及其程序在审
申请号: | 201910619305.3 | 申请日: | 2019-07-10 |
公开(公告)号: | CN110856648A | 公开(公告)日: | 2020-03-03 |
发明(设计)人: | 八卷哲平;设乐健一 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | A61B1/00 | 分类号: | A61B1/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 韩香花;崔成哲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 控制 装置 内窥镜 系统 方法 及其 程序 | ||
1.一种显示控制装置,其具备:
获取部,其获取表示如下的磁场的检测信号,其中,该磁场是通过沿内窥镜中的插入于受检体的插入部设置的多个磁场产生元件、多个磁场检测元件中的一方的多个元件、以及被设置于所述受检体的外部的另一方的多个元件检测到的磁场;以及
显示控制部,其根据所述获取部所获取的所述检测信号,进行将表示根据所述检测信号而检测到的所述插入部的位置及形状中的至少一方的检测精度的信息显示于显示部的控制。
2.根据权利要求1所述的显示控制装置,其中,
所述显示控制部进行作为表示所述检测精度的信息将如下信息显示于所述显示部的控制,其中所述信息是根据所述插入部的形状而预先设定的信息。
3.根据权利要求2所述的显示控制装置,其中,
所述显示控制部进行将所述插入部的形状与表示所述检测精度的信息一同显示于所述显示部的控制。
4.根据权利要求3所述的显示控制装置,其中,
所述显示控制部进行与表示所述插入部的形状的图像对应地将表示如下信息的图像显示于所述显示部的控制,其中,所述信息表示所述检测精度。
5.根据权利要求4所述的显示控制装置,其中,
所述显示控制部进行作为表示所述检测精度的信息显示沿所述插入部的图像设置且表示精度越差则宽度越变宽的区域的图像的控制。
6.根据权利要求1至5中任意一项所述的显示控制装置,其中,
所述显示控制部进行作为表示所述检测精度的信息将根据噪声的影响而预先设定的信息显示于所述显示部的控制。
7.根据权利要求6所述的显示控制装置,其中,还具备:
导出部,其根据从所述多个磁场检测元件中的至少一个磁场检测元件输出的所述检测信号,导出所述噪声的电平。
8.根据权利要求7所述的显示控制装置,其中,
所述检测信号包含所述插入部的位置及形状中的至少一方的检测中使用的第1检测信号以及在与所述第1检测信号不同的时刻获取的第2检测信号,
所述导出部根据所述第2检测信号而导出所述噪声的电平。
9.根据权利要求8所述的显示控制装置,其中,
所述第2检测信号是在所述多个磁场产生元件中的各个磁场产生元件没有产生磁场的状态下从所述多个磁场检测元件中的至少一个磁场检测元件输出的检测信号。
10.根据权利要求6所述的显示控制装置,其中,
所述显示控制部进行作为表示所述检测精度的信息将表示所述噪声的电平的图表及表示所述噪声的电平的数值中的至少一方显示于所述显示部的控制。
11.一种内窥镜系统,其具备;
内窥镜,其具备插入于受检体的插入部;
检测装置,其根据表示如下的磁场的检测信号,检测所述插入部的位置及形状中的至少一方,其中,所述磁场是通过沿所述插入部设置的多个磁场产生元件、多个磁场检测元件中的一方的多个元件、以及设置于所述受检体的外部的另一方的多个元件检测到的磁场;以及
权利要求1至10中任意一项所述的显示控制装置,其进行将表示所述检测装置的检测精度的信息显示于显示部的控制。
12.一种显示控制方法,在该显示控制方法中,计算机执行如下处理:
获取表示如下的磁场的检测信号,其中,该磁场是通过沿内窥镜中的插入于受检体的插入部设置的多个磁场产生元件、多个磁场检测元件中的一方的多个元件、以及设置于所述受检体的外部的另一方的多个元件而检测到的磁场;以及
根据所述检测信号,进行将表示根据所述检测信号而检测到的所述插入部的位置及形状中的至少一方的检测精度的信息显示于显示部的控制。
13.一种显示控制程序,其使计算机执行如下处理:
获取表示如下的磁场的检测信号,其中,该磁场是通过沿内窥镜中的插入于受检体的插入部设置的多个磁场产生元件、多个磁场检测元件中的一方的多个元件、以及被设置于所述受检体的外部的另一方的多个元件检测到的磁场;以及
根据所述检测信号,进行将表示根据所述检测信号而检测到的所述插入部的位置及形状中的至少一方的检测精度的信息显示于显示部的控制。
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