[发明专利]磁盘装置以及磁盘装置的记录方法有效

专利信息
申请号: 201910608847.0 申请日: 2019-07-08
公开(公告)号: CN111599384B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 友田悠介;原武生;前东信宏 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
主分类号: G11B5/596 分类号: G11B5/596
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 张洁;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磁盘 装置 以及 记录 方法
【说明书】:

实施方式提供能够使磁记录的品质提高的磁盘装置以及磁盘装置的记录方法。根据实施方式,磁盘装置具备磁头、磁盘和控制部。磁盘记录有用于在由所述磁头记录数据时定位所述磁头的伺服图形。控制部基于所述伺服图形设定所述磁盘的每个预定单位的记录条件,根据该设定的记录条件向所述磁盘进行数据的记录。

本申请享受以日本专利申请2019-28328号(申请日:2019年2月20日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包括基础申请的全部内容。

技术领域

实施方式涉及磁盘装置以及磁盘装置的记录方法。

背景技术

磁盘装置具有利用磁记录数据的记录介质。该记录介质例如成圆盘形状,构成为由磁头(head)在圆盘的表层上、且在圆周方向上记录数据。这种记录介质因其制作原理,会在同一周内的记录区域产生磁特性的偏差(波动)。一般而言,在磁盘装置中,在同一周内会以相同的记录条件记录数据,因而,数据的记录条件基于同一周内的记录区域中的最难记录的特性来决定。通过这样设定记录条件,在磁盘装置中保证在同一周内的数据的记录品质。

然而,考虑当数据的记录条件基于同一周内的记录区域中的最难记录的特性来决定时,在该记录区域以外的区域,有虽然满足了记录条件但会变为并非最佳的情况。也就是说,在该情况下,记录条件变得过剩。因此,在该记录区域以外的区域,会以过剩的记录品质记录数据。

此外,在磁盘装置中,为了消除上述的记录条件过剩的情况,已知如下技术:写入测试图形(test pattern),对其写入品质进行评价,由此预先评价周内分布,并基于其结果来按每个扇区(sector)使电流波形变化。

另外,在磁盘装置中,已知按照预先调查的介质的周内分布来使记录密度变化的技术。

在上述的写入测试图形的技术中,需要存储测试图形的区域以及进行评价的处理。另外,在上述的使记录密度变化的技术中,也考虑若使记录密度变得过窄则有数据的可靠性会出现问题的情况。

因此,需要能够以与上述使记录条件最优化的技术不同的方法设定适当的记录条件的磁盘装置。

发明内容

本发明提供能够通过适当地设定记录条件来使磁记录的品质提高的磁盘装置以及磁盘装置的记录方法。

一个实施方式涉及的磁盘装置具备磁头、磁盘和控制部。磁盘记录有用于在由所述磁头记录数据时定位所述磁头的伺服图形。控制部基于所述伺服图形设定所述磁盘的每个预定单位的记录条件,根据该设定的记录条件向所述磁盘进行数据的记录。

附图说明

图1是表示第1实施方式涉及的磁盘装置的构成的一例的图。

图2是表示以往的BER分布的一例的图。

图3是图2的P部分的放大图。

图4是表示以往的BER分布的半径位置依赖性的结果的一例的图。

图5是表示以往的在不同半径位置的每个扇区的BER分布的一例的图。

图6是表示以往的外周侧的连续磁道上的每个扇区的BER分布的一例的图。

图7是用于说明该实施方式涉及的伺服图形的图。

图8是表示该实施方式涉及的伺服图形的一例的图。

图9是表示该实施方式涉及的设定记录条件并对盘进行数据记录的处理的一例的流程图。

图10是表示该实施方式涉及的伺服图形的另一例的图。

图11是表示其他实施方式涉及的磁盘装置的构成的一例的图。

具体实施方式

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