[发明专利]一种通断开关寿命的检测装置及检测方法在审
| 申请号: | 201910606490.2 | 申请日: | 2019-07-05 |
| 公开(公告)号: | CN110261767A | 公开(公告)日: | 2019-09-20 |
| 发明(设计)人: | 林文计;田文杰;陈家培 | 申请(专利权)人: | 瑞纳智能设备股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
| 代理公司: | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人: | 娄岳 |
| 地址: | 230011 安徽省合*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 通断开关 驱动模块 检测模块 断开 检测 闭合 检测装置 弱电信号 实际电路 使用寿命 输出电平 单片机 输出 接收检测模块 闭合控制 检测结果 控制通断 连接模拟 应用电路 单火线 贴合 电源 发送 记录 | ||
本发明公开了一种单火线通断开关寿命的检测装置,包用于接收检测模块发送的弱电信号实现与电源闭合或断开的通断开关;用于与通断开关连接模拟实际电路并输出电平的驱动模块;检测模块,用于检测驱动模块输出的电平,检测方法包括:单片机通过输出的弱电信号控制通断开关的断开和闭合;通断开关的断开和闭合控制驱动模块向检测模块输出电平;单片机对接收到的电平进行判断和记录。本发明通过将通断开关接入驱动模块,模拟实际应用电路,利用检测模块对驱动模块输出的电平进行判断,检测出通断开关在实际电路运用中的开关次数(即使用寿命),检测结果贴合实际运用下通断开关的使用寿命。
技术领域
本发明涉及一种通断开关寿命的检测装置及检测方法,适用于通断开关检测技术领域。
背景技术
一般继电器开关寿命测试都是出厂时候在额定规定条件下测试完成,出厂单独检测继电器裸元器件开关次数,但是实际在灯控开关中继电器是结合实际应用电路而工作的,所以继电器在实际的工作电路中的开关次数和出厂测试的裸元器件开关次数是有着本质区别的,单独对继电器的开关次数进行检测的结果属于理想状态,并不能真正检测出继电器针对实际应用电路条件下去测试开关次数,得出实际使用时继电器的开关次数。
发明内容
本发明的目的在于提供一种通断开关寿命的检测装置及检测方法。
实现本发明目的的技术解决方案为:一种单火线通断开关寿命的检测装置,包括:
用于接收检测模块发送的弱电信号实现与电源闭合或断开的通断开关;
用于与通断开关连接模拟实际电路并输出电平的驱动模块;
检测模块,用于检测驱动模块输出的电平。
进一步地,所述检测模块包括:
按键电路,用于操控显示屏和单片机;
单片机,用于发送弱电信号和接收电平且对接收的电平进行判断;
显示模块,用于对单片机的判断结果进行显示;
电源模块,用于对按键电路、单片机、显示模块和晶体模块进行供电;
晶体模块,用于为单片机提供频率稳定且电平匹配的方波时钟脉冲信号。
进一步地,所述通断开关为弱电控制强电的开关装置。
进一步地,所述驱动模块为将强电转换弱电的驱动装置。
一种通断开关寿命的检测方法,包括:
S1、单片机通过输出的弱电信号控制通断开关的断开和闭合;
S2、通断开关的断开和闭合控制驱动模块向单片机输出电平;
S3、单片机对接收到的电平进行判断和记录。
进一步地,步骤S1中所述单片机通过输出的弱电信号控制通断开关的断开和闭合的具体方法为:单片机的I/O口发出高电平,通断开关闭合;单片机的I/O口发出低电平,通断开关断开。
进一步地,步骤S2中所述通断开关的断开和闭合控制驱动模块向单片机输出不同的电平的具体方法为:通断开关闭合时,电源通过通断开关对驱动模块进行供电,驱动模块输出电平到单片机;通断开关断开时,电源断开,驱动模块输出电平到单片机。
进一步地,步骤S3中单片机对接收到的电平进行判断和记录的具体方法为:
a、单片机对通断开关闭合时输出的电平判断是否为高电平,若是则通断开关正常,反之则异常,接着单片机对通断开关断开时输出的电平是否为低电平,若是则通断开关正常,反之则异常,;
b、若步骤a中通断开关闭合时和通断开关断开时,判断通断开关均为正常,则通断开关为合格,反之则不合格;
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