[发明专利]一种通断开关寿命的检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种通断开关寿命的检测装置，其特征在于，包括：

用于接收检测模块发送的弱电信号实现与电源闭合或断开的通断开关；

用于与通断开关连接模拟实际电路并输出电平的驱动模块；

检测模块，用于检测驱动模块输出的电平。

2.根据权利要求1所述的一种通断开关寿命的检测装置，其特征在于，所述检测模块包括：

按键电路，用于操控显示屏和单片机；

单片机，用于发送弱电信号和接收电平且对接收的电平进行判断；

显示模块，用于对单片机的判断结果进行显示；

电源模块，用于对按键电路、单片机、显示模块和晶体模块进行供电；

晶体模块，用于为单片机提供频率稳定且电平匹配的方波时钟脉冲信号。

3.根据权利要求1所述的一种通断开关寿命的检测装置，其特征在于，所述通断开关为弱电控制强电的开关装置。

4.根据权利要求1所述的一种通断开关寿命的检测装置，其特征在于，所述驱动模块为将强电转换弱电的驱动装置。

5.根据权利要求1-4任一项所述的一种通断开关寿命的检测方法，其特征在于，包括：

S1、单片机通过输出的弱电信号控制通断开关的断开和闭合；

S2、通断开关的断开和闭合控制驱动模块向单片机输出电平；

S3、单片机对接收到的电平进行判断和记录。

6.根据权利要求5所述的一种通断开关寿命的检测方法，其特征在于，步骤S1中所述单片机通过输出的弱电信号控制通断开关的断开和闭合的具体方法为：单片机的I/O口发出高电平，通断开关闭合；单片机的I/O口发出低电平，通断开关断开。

7.根据权利要求5所述的一种通断开关寿命的检测方法，其特征在于，步骤S2中所述通断开关的断开和闭合控制驱动模块向单片机输出不同的电平的具体方法为：通断开关闭合时，电源通过通断开关对驱动模块进行供电，驱动模块输出电平到单片机；通断开关断开时，电源断开，驱动模块输出电平到单片机。

8.根据权利要求5所述的一种通断开关寿命的检测方法，其特征在于，步骤S3中单片机对接收到的电平进行判断和记录的具体方法为：

a、单片机对通断开关闭合时输出的电平判断是否为高电平，若是则通断开关正常，反之则异常，接着单片机对通断开关断开时输出的电平是否为低电平，若是则通断开关正常，反之则异常，；

b、若步骤a中通断开关闭合时和通断开关断开时，判断通断开关均为正常，则通断开关为合格，反之则不合格；

c、重复步骤a和步骤b，单片机对通断开关是否合格的检测结果进行记录。