[发明专利]一种磁动式光学相干层析成像系统及其磁场调制方法

权利要求书

1.一种磁动式光学相干层析成像系统，其特征在于，包括OCT装置和磁调制装置，所述OCT装置包括控制系统、光信号收发模块、样品臂和参考臂，所述光信号收发模块发送两路光信号，一路光信号进入所述样品臂，一路光信号进入所述参考臂，所述磁调制装置利用双静磁场交替屏蔽的方法实现对样品台上样品的双向磁场调制，所述样品臂包括扫描振镜、准直和聚焦透镜组、样品台，所述磁调制装置包括固定架、A磁棒、B磁棒、A扇叶盘、B扇叶盘、电机和电源装置，所述电源装置为所述电机提供电压，所述固定架的上端固定安装有所述A磁棒，所述固定架的下端设置有与所述A磁棒相对设置的B磁棒，所述固定架上还设置有所述样品台，所述样品台与所述B磁场位于同一侧，所述电机的输出轴上设置有所述A扇形盘和B扇形盘，所述A扇形盘和B扇形盘通过键槽周向定位在所述电机的输出轴上，所述A扇形盘设置在所述样品台和A磁棒之间，所述B扇形盘设置在所述样品台和B磁棒之间，进入样品臂的光信号依次通过所述扫描振镜、准直和聚焦透镜组入射至所述样品台，所述样品台上的样品将经过双向磁场调制后的光散射后依次沿所述样品台、准直和聚焦透镜组、扫描振镜反射回来和参考臂反射回来的光进行干涉，所述干涉信号进入所述光信号收发模块，所述光信号收发模块将所述干涉信号发射给所述控制系统，所述控制系统根据干涉信号进行数据处理后得到样品的结构图和样品运动状况的相位图。

2.根据权利要求1所述的磁动式光学相干层析成像系统，其特征在于，所述控制系统为数据处理器。

3.根据权利要求1所述的磁动式光学相干层析成像系统，其特征在于，所述扫描振镜包括X扫描振镜和Y扫描振镜。

4.根据权利要求1所述的磁动式光学相干层析成像系统，其特征在于，所述A扇叶盘和B扇叶盘采用的材质为铁镍合金板。

5.根据权利要求1所述的磁动式光学相干层析成像系统，其特征在于，所述A扇叶盘、B扇叶盘上均包括4个扇叶，所述A扇叶盘上相邻扇叶之间的夹角为45°，所述所述B扇叶盘上相邻扇叶之间的夹角为45°。

6.一种基于权利要求1所述的磁动式光学相干层析成像系统的磁场调制方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤1：磁调制装置利用双静磁场交替屏蔽的方法实现对样品台上样品的双向磁场调制；

步骤2：光信号收发模块发送两路光信号，一路光信号进入样品臂，另一路光信号进入参考臂；

步骤3：进入样品臂的光信号依次通过扫描振镜、准直和聚焦透镜组入射至所述样品台，所述样品台上的样品将经过双向磁场调制后的光散射后依次沿所述样品台、准直和聚焦透镜组、扫描振镜反射回来和参考臂反射回来的光进行干涉，并将产生的干涉信号传输至光信号收发模块；

步骤4：光信号收发模块将干涉信号传输至控制系统，所述控制系统对干涉信号进行数据处理后得到样品的结构图和反映样品运动状况的相位图。

7.根据权利要求6所述的磁动式光学相干层析成像系统的磁场调制方法，其特征在于，所述步骤1：磁调制装置利用双静磁场交替屏蔽的方法实现对样品台上样品的双向磁场调制，具体包括：

将A扇叶盘、B扇叶盘在叶片布局上的角度差设定为a；

将A扇叶盘、B扇叶盘通过键槽周向定位在电机的输出轴上；

通过电机驱动输出轴使A扇叶盘、B扇叶盘以设定转速旋转，有且仅有一个扇叶位于A磁棒和B磁棒中间，实现A磁棒、B磁棒对样品台上样品的交替吸引。