[发明专利]一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置

说明书

本发明公开一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置，显示面板测试方法包括以下步骤：在待测扫描线的预设区段内选取待测点；将经过待测点的数据线切断，以获得数据线中与覆晶薄膜连接的一段作为待测数据线段；将待测扫描线与待测数据线段电连接；将覆晶薄膜和印刷电路板之间的电连接切断；通过覆晶薄膜对待测点处的输出信号进行检测。待测数据线段相当于一导线，将待测扫描线的输出信号引出至覆晶薄膜，使得通过覆晶薄膜，可直接对待测点的输出信号进行检测，无需单独拉线至印刷电路板；并且，通过切断覆晶薄膜和印刷电路板之间的电连接，可消除印刷电路板对检测结果的干扰，有助于提高检测结果的准确性。

技术领域

本发明涉及显示产品的技术领域，特别涉及显示产品的测试技术领域，具体涉及一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置。

背景技术

显示面板行业的快速发展，使得对面板行业的技术要求越来越严格，继而需要制造者时刻关注产品性能是否符合设计要求。以对面板上阵列基板栅极驱动(Gate drivenon Array，GOA)产品扫描线输出波形以及经过RC时间延迟后的扫描线波形进行测试为例进行说明，一般的设计，不会单独拉引线到印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)板上来对输出波形进行检测，因此，通过现有技术，很难得到准确的扫描线输出波形以及经过RC时间延迟后的扫描线波形。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置，旨在解决传统的GOA产品无法测得准确的扫描线输出波形的问题。

为实现上述目的，本发明提出的一种显示面板测试方法，应用在显示装置中，包括以下步骤：

在待测扫描线的预设区段内选取待测点；

将经过所述待测点所在位置的数据线切断，以获得所述数据线中与覆晶薄膜连接的一段，作为待测数据线段；

将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接；

将所述覆晶薄膜和印刷电路板之间的电连接切断；以及，

通过所述覆晶薄膜，对所述待测扫描线在所述待测点处的输出信号进行检测。

可选地，所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测扫描线具有电连接至阵列基板栅极驱动电路的连接端，所述待测点位于所述预设区段靠近所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线的近端输出波形。

可选地，所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测扫描线具有电连接至阵列基板栅极驱动电路的连接端，所述待测点位于所述预设区段远离所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线的远端输出波形。

可选地，所述待测扫描线的两端分别电连接一阵列基板栅极驱动电路；

所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测点位于所述两个阵列基板栅极驱动电路的中端，以检测获得所述待测扫描线的远端输出波形。

可选地，所述将经过所述待测点所在位置的数据线切断，以获得所述数据线中与覆晶薄膜连接的一段，作为待测数据线段的步骤中，所述数据线切断处位于所述待测点所在位置背离所述覆晶薄膜的一侧，所述数据线切断处靠近所述待测点所在位置设置。

可选地，所述将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接的步骤包括：

通过镭射机将所述待测数据线段与所述待测点的重叠位置熔接，以实现所述待测扫描线与所述待测数据线段之间的导通。

可选地，所述显示装置还包括薄膜晶体管开关，所述薄膜晶体管开关的栅极电连接所述待测扫描线；

所述将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接的步骤包括：