[发明专利]一种显示面板测试方法、显示面板以及显示装置

权利要求书

1.一种显示面板测试方法，应用在显示装置中，其特征在于，包括以下步骤：

在待测扫描线的预设区段内选取待测点；

将经过所述待测点所在位置的数据线切断，以获得所述数据线中与覆晶薄膜连接的一段，作为待测数据线段；

将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接；

将所述覆晶薄膜和印刷电路板之间的电连接切断；以及，

通过所述覆晶薄膜，对所述待测扫描线在所述待测点处的输出信号进行检测。

2.如权利要求1所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测扫描线具有电连接至阵列基板栅极驱动电路的连接端，所述待测点位于所述预设区段靠近所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线的近端输出波形。

3.如权利要求1所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测扫描线具有电连接至阵列基板栅极驱动电路的连接端，所述待测点位于所述预设区段背离所述连接端的一端，以检测获得所述待测扫描线的远端输出波形。

4.如权利要求1所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述待测扫描线的两端分别电连接一阵列基板栅极驱动电路；

所述在待测扫描线的预设区段内选取待测点的步骤中，所述待测点位于所述两个阵列基板栅极驱动电路的中端，以检测获得所述待测扫描线的远端输出波形。

5.如权利要求1所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述将经过所述待测点所在位置的数据线切断，以获得所述数据线中与覆晶薄膜连接的一段，作为待测数据线段的步骤中，所述数据线切断处位于所述待测点所在位置远离所述覆晶薄膜的一侧，所述数据线切断处靠近所述待测点所在位置设置。

6.如权利要求1所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接的步骤包括：

通过镭射机将所述待测数据线段与所述待测点的重叠位置熔接，以实现所述待测扫描线与所述待测数据线段之间的导通。

7.如权利要求1所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述显示装置还包括薄膜晶体管开关，所述薄膜晶体管开关的栅极电连接所述待测扫描线；

所述将所述待测扫描线与所述待测数据线段电连接的步骤包括：

通过镭射机将所述待测数据线段与所述薄膜晶体管开关的栅极熔接，以实现所述待测扫描线与所述待测数据线段之间的导通。

8.如权利要求1所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述通过所述覆晶薄膜，对所述待测扫描线在所述待测点处的输出信号进行检测的步骤之后，还包括：

将所述待测扫描线和所述待测数据线段之间的电连接切断；

将所述覆晶薄膜和所述印刷电路板电导通；以及，

将经过所述待测点所在位置的所述数据线电导通。

9.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：

呈交叉布设的多行扫描线和多列数据线；以及，

第一补接结构，设于所述多列数据线中的至少一列数据线上，用于电导通所述至少一列数据线。

10.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括：

印刷电路板；

呈交叉布设的多行扫描线和多列数据线；

阵列基板栅极驱动电路，电连接所述多行扫描线；

覆晶薄膜，两端分别电连接至所述印刷电路板和所述多列数据线；

第一补接结构，设于所述多列数据线中的至少一列数据线上，用于电导通所述至少一列数据线；以及，

第二补接结构，设于所述印刷电路板和所述覆晶薄膜之间的导线上，用于电导通所述印刷电路板和所述覆晶薄膜。