[发明专利]面板采样方法、存储介质和计算机

说明书

一种面板采样方法、存储介质和计算机，其中方法包括如下步骤，以面板上的第一子像素为中心，建立采样遮罩块，获取采样遮罩块中的预设显示的视讯资料，对采样遮罩块中无视讯资料位置的面积剔除，对其余位置的视讯资料进行采样，对采样结果进行归一化处理，得到所述第一子像素的显示结果。上述方案能够以较少的功耗提高显示解析度的画面；并使得边缘位置得到较佳的显示效果。

技术领域

本发明涉及新型的SPR采样方式，尤其涉及一种对边缘位置进行优化显示的新型显示采样方式。

背景技术

使用SPR(sub-pixel rendering)技术有提高面板的PPI，降低驱动IC通道数，提高面板的穿透率以及减少面板的功耗等优点。采用delta排列+SPR技术可以实现以较少的实际像素显示较高解析度的画面。针对delta排列的面板进行采样时，四边及四角位置与中间位置的sub-pixel采样方式不同，若不做特殊处理，会使面板边缘位置显示出现异常，所以需对四边及四角位置采用不同的公式进行采样。

发明内容

因此，需要提供一种新的面板采样技术，达到在面板的边缘位置中进行更好的显示的效果。

为实现上述目的，发明人提供了一种面板采样方法，包括如下步骤，以面板上的第一子像素为中心，建立采样遮罩块，获取采样遮罩块中的预设显示的视讯资料，对采样遮罩块中无视讯资料位置的面积剔除，对其余位置的视讯资料进行采样，对采样结果进行归一化处理，得到所述第一子像素的显示结果。

具体地，所述面板为Delta排列的面板，具体为，包括第二子像素，所述第二子像素与六个不同颜色的第三子像素相邻，不同颜色的第三子像素分列第二子像素的上方、下方、左上方、左下方、右上方、右下方。

具体地，还包括步骤，判断第一像素是否位于面板边缘；当判断为是，才进行步骤，以面板上的第一子像素为中心，建立采样遮罩块。

一种面板采样存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序在被运行时执行如下步骤，以面板上的第一子像素为中心，建立采样遮罩块，获取采样遮罩块中的预设显示的视讯资料，对采样遮罩块中无视讯资料位置的面积剔除，对其余位置的视讯资料进行采样，对采样结果进行归一化处理，得到所述第一子像素的显示结果。

具体地，所述面板为Delta排列的面板，具体为，包括第二子像素，所述第二子像素与六个不同颜色的第三子像素相邻，不同颜色的第三子像素分列第二子像素的上方、下方、左上方、左下方、右上方、右下方。

进一步地，所述计算机程序在被运行时还执行如下步骤，判断第一像素是否位于面板边缘；当判断为是，才进行步骤，以面板上的第一子像素为中心，建立采样遮罩块。

一种面板采样计算机，所述计算机包括上述的存储介质。

区别于现有技术，以较少的功耗提高显示解析度的画面；并使得边缘位置得到较佳的显示效果。

附图说明

图1为具体实施方式所述的面板采样方法流程图；

图2为具体实施方式所述的Delta面板示意图；

图3为具体实施方式所述的输入的视讯资料示意图；

图4为具体实施方式所述的面板子像素实际排列示意图；

图5为具体实施方式所述的mask示意图；

图6为具体实施方式所述的mask计算SPR采样公式示意图；

图7a为具体实施方式所述的采样过程示意图；

图7b为具体实施方式所述的采样过程示意图。

具体实施方式

为详细说明技术方案的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施例并配合附图详予说明。