[发明专利]一种应用于LED灯测试夹具的测试系统

说明书

本发明公开了一种应用于LED灯测试夹具的测试系统，包括：MCU控制驱动电路、MOS管驱动电路、极性判断电路、测试夹具；通过MCU控制驱动电路对MOS管驱动电路的四个MOS管的开启或关闭状态进行控制，从而改变流入测试夹具的电流方向；其中还通过极性判断电路采样检测并判断当前测试回路的电流值是否正常，从而判断待测LED灯装载在测试夹具的极性是否正确，并反馈信号给MCU控制驱动电路从而保持或改变当前流入测试夹具的电流方向，以便完整后续的LED灯测试工作。本发明解决了现有的LED灯测试夹具由于只有单向导电性，导致LED灯的测试工作效率低，可靠性不足等问题。

技术领域

本发明涉及LED灯测试技术领域，尤其涉及一种应用于LED灯测试夹具的测试系统。

背景技术

目前市面上的LED灯测试夹具为单向导电性，即对LED灯施加电流的方向必须固定，待测LED灯装载在夹具上必须对应正确极性才能正常测试。当LED灯电极放置方向倒置时，测试人员必须确认后重新装载才能继续完成LED灯的测试工作，增加了测试工作量，导致测试效率低下，影响了测试的可靠性。

发明内容

本发明为解决现有的LED灯测试夹具由于只有单向导电性，导致LED灯的测试工作效率低，可靠性不足等问题，提供了一种应用于LED灯测试夹具的测试系统。

为实现以上发明目的，而采用的技术手段是：

一种应用于LED灯测试夹具的测试系统，包括：MCU控制驱动电路、MOS管驱动电路、极性判断电路、测试夹具；

其中MOS管驱动电路为包括四个MOS管的H桥电路，其中H桥的电源正极端与电源正极电连接，H桥的电源负极端与电源负极电连接；所述MCU控制驱动电路分别与MOS管驱动电路以及测试夹具电连接，所述MOS管驱动电路通过极性判断电路与所述测试夹具电连接。

在本优选方案中，通过MCU控制驱动电路对MOS管驱动电路的四个MOS管的开启或关闭状态进行控制，从而改变流入测试夹具的电流方向；其中还通过极性判断电路采样检测并判断当前测试回路的电流值是否正常，从而判断待测LED灯装载在测试夹具的极性是否正确，并反馈信号给MCU控制驱动电路从而保持或改变当前流入测试夹具的电流方向，以便完整后续的LED灯测试工作。

优选的，所述MOS管驱动电路为包括四个MOS管的H桥电路，该电路具体包括：第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS管和第四NMOS管，所述第一NMOS管的漏极、第三NMOS管的漏极作为H桥的电源正极端，所述第一NMOS管的源极与第二NMOS管的漏极电连接，所述第三NMOS管的源极与第四NMOS管的漏极电连接，所述第二NMOS管的源极、第四NMOS管的源极作为H桥的电源负极端。

优选的，所述MOS管驱动电路为包括四个MOS管的H桥电路，该电路还包括：第一电阻R1、第一稳压二极管D1、第一电容C1、第五电容C5以及第五电阻R5；第二电阻R2、第二稳压二极管D2、第二电容C2、第六电容C6以及第六电阻R6；第三电阻R3、第三稳压二极管D3、第三电容C3、第七电容C7以及第七电阻R7；第四电阻R4、第四稳压二极管D4、第四电容C4、第八电容C8以及第八电阻R8；

第一稳压二极管D1的阳极、第一电容C1的负极、第五电容C5的另一端均与电源地电平电连接，第一稳压二极管D1的阴极、第一电容C1的正极、第五电容C5的一端、第五电阻R5的一端均与第一电阻R1的一端电连接后与第一NMOS管的源极电连接，所述第一电阻R1的另一端与电源电连接，所述第五电阻R5的另一端与第一NMOS管的栅极电连接；

第二稳压二极管D2的阳极、第二电容C2的负极、第六电容C6的另一端均与电源地电平电连接，第二稳压二极管D2的阴极、第二电容C2的正极、第六电容C6的一端、第六电阻R6的一端均与第二电阻R2的一端电连接后与第一NMOS管的源极电连接，所述第二电阻R2的另一端与电源电连接，所述第六电阻R6的另一端与第二NMOS管的栅极电连接；