[发明专利]一种生产工艺时序基准值的计算方法、系统和存储介质

说明书

本发明公开了一种生产工艺时序基准值的计算方法、系统和存储介质，方法包括以下步骤：连续采集至少两百个工艺时序周期的工艺时序数据作为第一样本数据；计算第一样本数据的第一平均值和第一众数；根据第一平均值和第一众数对第一样本数据进行第一轮筛选，得到第二样本数据；计算第二样本数据的第一标准差和第二平均值；根据第一标准差和第二平均值对第二样本数据进行第二轮筛选，得到第三样本数据；计算第三样本数据的第三平均值、第二众数和第一最小值，并将第三平均值、第二众数和第一最小值保存到基准值的数据模型集合内。本发明能够为实际的工艺时序数据的诊断过程提供多种可选的数据模型。本发明可广泛应用于工业信息化技术领域。

技术领域

本发明涉及工业信息化技术领域，尤其是一种生产工艺时序基准值的计算方法、系统和存储介质。

背景技术

随着全球工业信息化、数字化的发展趋势，工艺时序是制造行业工艺的一项重要参数，工艺时序基准值的计算过程也成为时序分析环节中十分重要的一个步骤。目前，工艺时序基准值计算方式主要分为两种：第一种是根据设计值进行计算，第二种是根据现有数据进行计算。第一种计算得到的工艺时序基准值会不符合实际情况，第二种计算方式是采用一段范围内工艺时序数据进行计算得到平均值，以这个平均值作为工艺时序基准值，由于数据采集范围过小，得到的工艺时序基准值过于单一，即可选择的数据模型过于单一，从而无法满足实际工艺时序数据的诊断需求。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的目的在于：提供一种能够提供多种工艺时序基准值的生产工艺时序基准值的计算方法、系统和存储介质。

本发明所采用的第一种技术方案是：

一种生产工艺时序基准值的计算方法，其包括以下步骤：

连续采集至少两百个工艺时序周期的工艺时序数据作为第一样本数据；

计算第一样本数据的第一平均值和第一众数；

根据第一平均值和第一众数对第一样本数据进行第一轮筛选，得到第二样本数据；

计算第二样本数据的第一标准差和第二平均值；

根据第一标准差和第二平均值对第二样本数据进行第二轮筛选，得到第三样本数据；

计算第三样本数据的第三平均值、第二众数和第一最小值，并将第三平均值、第二众数和第一最小值保存到基准值的数据模型集合内。

进一步地，所述计算第一样本数据的第一平均值和第一众数，其具体包括：

计算第一样本数据中所有工艺时序数据的总平均值作为第一平均值；

计算第一样本数据中所有工艺时序数据的众数作为第一众数。

进一步地，所述计算第一样本数据的第一平均值和第一众数，其具体包括：

根据工艺的动作类型，获取第一样本数据中所有工艺时序周期内相同动作类型的工艺时序数据；

依次计算第一样本数据中相同动作类型的工艺时序数据的平均值作为第一平均值；

依次计算第一样本数据中相同动作类型的工艺时序数据的众数作为第一众数。

进一步地，所述计算第二样本数据的第一标准差和第二平均值，其具体包括：

计算第二样本数据中工艺时序周期内所有工艺时序数据的总平均值作为第二平均值；

计算第二样本数据中工艺时序周期内所有工艺时序数据的总标准差作为第一标准差。

进一步地，所述计算第二样本数据的第一标准差和第二平均值，其具体包括：

根据工艺的动作类型，获取第二样本数据中所有工艺时序周期内相同动作类型的工艺时序数据；