[发明专利]一种显示面板切割精度的测量方法及显示面板

说明书

本发明提出一种显示面板切割精度的测量方法及显示面板，涉及显示面板的技术领域，测量方法包括如下步骤：S1：确认被切割角的顶点；S2：根据顶点按照放大比例的方式提取被切割角所在的矩形；S3：在矩形内先利用扫描方式得到坐标分布，再使用计算机计算出对应的分布函数，即确定出被切割角的斜率线或曲线，再根据斜率线或曲线与面板边缘线的交点确定出两个切割交接点；S4：通过算法计算出顶点分别与两个切割交接点之间的像素数量，根据相机像素大小转化为相应位置距离得到实际测量距离；S5：通过计算实际测量距离与面板设计距离的差值得到显示面板的切割精度误差值。本发明解决了液晶面板制造业中显示面板异型切割精度测量时间较长的问题。

技术领域

本发明属于显示面板的技术领域，具体涉及一种显示面板切割精度的测量方法及显示面板。

技术背景

目前液晶面板领域对显示面板的角落部分大多采用异型切割或研磨的处理方式(统称异型切割技术)，而异型角切割的精度是否满足要求对后续的制程加工制作起着决定性因素，

现阶段行业内的倒角精度测量主要采取以下方式：人员使用显微镜测量，根据分断切割标志与斜切线间的垂直距离，利用公式计算出斜切边的大小。这种测量方法测量精度准确性高，误差数量级别为50μm，但是这种测量方法存在以下缺点：

(1)成本高，需要另外购买专用设备，约20万/台；

(2)测量时间长，单片测量时间约为60s；

(3)只能满足抽检形式，无法进行连续性监控。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可有效提高产品测试效率和监控倒角精度、降低后续制程的不良发生率、起到降低部材损失作用的显示面板切割精度的测量方法及显示面板。

本发明的技术方案如下：

本发明公开了一种显示面板切割精度的测量方法，包括如下步骤：

S1：确认被切割角的顶点；

S2：根据顶点，按照放大比例的方式提取被切割角所在的矩形；

S3：在矩形内，先利用扫描方式得到坐标分布，再使用计算机计算出对应的分布函数，即确定出被切割角的斜率线或曲线，再根据斜率线或曲线与面板边缘线的交点确定出两个切割交接点；

S4：通过算法计算出顶点分别与两个切割交接点之间的像素数量，根据相机像素大小转化为相应位置距离得到实际测量距离；

S5：通过计算实际测量距离与面板设计距离的差值得到显示面板的切割精度误差值。

优选地，步骤S3所述的先利用扫描方式得到坐标分布再使用计算机计算出对应的分布函数具体为以下步骤：

S31：以顶点位置为起点，在Y轴方向取多个有固定宽度的扫描起点沿X轴方向逐行向面板进行扫描，得到扫描线与面板边缘接触点的坐标为P1(X1，Y1)、P2(X2，Y2)、……、Pn(Xn，Yn)；

S32：当接触点Pi(Xi，Yi)的X坐标连续现多次相同的值时，将接触点Pi(Xi，Yi)确定为切割线的最后一个有效点，其中i≤n；

S33：计算机根据扫描得到的接触点的坐标P1(X1，Y1)、P2(X2，Y2)、……、Pi(Xi，Yi)计算得到对应的分布函数，即确定出被切割角的斜率线或曲线。

优选地，步骤S3所述的先利用扫描方式得到坐标分布再使用计算机计算出对应的分布函数具体为以下步骤：

S31：以顶点位置为起点，在X轴方向取多个有固定宽度的扫描起点沿Y轴方向逐行向面板进行扫描，得到扫描线与面板边缘接触点的坐标为P1(X1，Y1)、P2(X2，Y2)、……、Pn(Xn，Yn)；