[发明专利]一种高反光材料表面检测方法及系统

说明书

本发明公开了一种高反光材料表面检测方法及系统，逐一采用不同照射角度的偏振光源对待测材料表面进行照射，所述偏振光源具有不同的偏振方向；采用检偏器对每个偏振光源的反射光进行检偏，并拍摄相应的偏振光源下所述待测材料表面的第一图片；将由所述第一图片构成的图片序列进行图像融合处理得到第二图片；根据所述第二图片分析待测材料的表面缺陷。本发明的技术方案能够更全面地检测高反光材料表面缺陷，减少漏检发生。

技术领域

本发明涉及工业检测领域，特别涉及一种高反光材料表面检测方法及系统。

背景技术

在工业检测领域，高反光材料(例如玻璃、铝板和不锈钢板等)表面的划痕、灰尘、油污、裂痕等缺陷的检测一直是一个难点。高反光材料的表面反射系数高，在利用视觉系统进行缺陷检测时，高反光材料强烈的反射光线时常导致检测相机拍摄到的图像过饱和，对缺陷检测产生较大的干扰。

鉴于上述情况，针对高反光材料表面检测，通常采用一种能够抑制表面高反光的基于正交偏振的视觉检测系统，该系统采用偏振光源对高反光物体表面进行照明，并在相机拍摄光路上设置与偏振光源偏振方向垂直的检偏器，从而抑制高反光材料表面的强烈反光。但是，由于材料表面缺陷的形状、大小和类型等存在很大差异，可能会出现缺陷处反射光无法有效进入相机或者检测相机拍摄到的图像中缺陷处对比度不明显等情况，极易导致视觉检测系统发生漏检。

发明内容

本发明提供了一种高反光材料表面检测方法及系统，能够更全面地检测高反光材料表面缺陷，降低漏检发生概率。

第一方面，本发明提供一种高反光材料表面检测方法，所述方法包括：

逐一采用不同照射角度的偏振光源对待测材料表面进行照射，所述偏振光源具有不同的偏振方向；

采用检偏器对每个偏振光源的反射光进行检偏，并拍摄相应的偏振光源下所述待测材料表面的第一图片；

将由所述第一图片构成的图片序列进行图像融合处理得到第二图片；

根据所述第二图片分析待测材料的表面缺陷。

作为一种可选的方案，所述将由所述第一图片构成的图片序列进行图像融合处理得到第二图片，包括：

由所述第一图片构成的图片序列G1、G2、G3……Gn图像序列进行图像融合处理得到所述第二图片F，所述第一图片和第二图片大小均为m×n，图像融合方法表示为：

F(m,n)＝max{G1(m,n),G2(m,n),G3(m,n),…Gn(m,n)}；

其中：m、n分别为图像中像素的行号和列号，在融合处理时，比较图像序列G1、G2、G3……Gn中对应位置(m，n)处像素灰度值的大小，以其中灰度值最大的像素作为所述第二图片F在位置(m，n)处的像素。

作为一种可选的方案，所述根据所述第二图片分析待测材料表面缺陷，包括：

将所述第二图片输入预设的神经网络模型，所述神经网络模型输出检测结果。

第二方面，本发明提供一种高反光材料表面检测系统，包括光源组、用于放置待测材料的置物台、检偏器、相机以及上位机；

所述光源组具有多个偏振方向不同的偏振光源，多个所述偏振光源分别以不同的照射角度对所述置物台上的待测材料表面进行照射产生反射光；

所述检偏器包括多个偏振片，其根据所述偏振光源的偏振方向切换偏振片；

所述相机用于拍摄待测材料，获取第一图片；

所述上位机用于根据所述第一图片构成的图片序列进行图像融合得到第二图片，并根据所述第二图片分析待测材料的表面缺陷。