[发明专利]一种内存测试装置及测试方法

说明书

本发明提供一种内存测试装置及测试方法，包括测试控制模块和测试执行模块，所述测试控制模块包括控制芯片和第一通信芯片，所述控制芯片与所述第一通信芯片通信连接；所述测试执行模块包括第二通信芯片和多个测试执行组，多个测试执行组均与所述第二通信芯片通信连接；所述测试执行组包括能够挂载被测试内存的终端；所述第一通信芯片与所述第二通信芯片电连接。本发明能够实现对内存条进行批量自动化测试，大大提高了测试效率，且测试控制模块采用C2控制芯片，结构简单，无需专用控制服务器，节省成本。

技术领域

本发明属于存储设备测试技术领域，具体涉及一种内存测试装置及测试方法。

背景技术

随着数字科技的日益进步，无论是个人电脑或者是服务器都在对内存这种高数据交换的关键部件进行不断的升级和换代。正是由于内存对数据交换性能起关键性的特点，导致人们对内存质量的把控也是日益提高。

由于目前对内存的测试大部分还停留的单机单根或者单机2-4条内存的低效率状态，不能满足大批量生产对合格内存快速检验的需要，由此引发内存测试对生产的延误问题。

基于现有内存测试无法进行大批量测试的问题，提出一种模块化的内存测试模组架构，以解决目前存在的问题。

发明内容

针对现有技术的上述不足，本发明提供一种内存测试装置及测试方法，以解决上述技术问题。

一方面，本发明提供一种内存测试装置，包括测试控制模块和测试执行模块，所述测试控制模块包括控制芯片和第一通信芯片，其中，所述控制芯片与所述第一通信芯片通信连接，此外测试控制模块还包括串口，且串口与控制芯片电连接。所述测试执行模块包括第二通信芯片和多个测试执行组，多个测试执行组均与所述第二通信芯片通信连接；所述测试执行组包括能够挂载被测试内存的终端，该终端可以是服务器。所述第一通信芯片与所述第二通信芯通过同步串行总线连接。

另一方面，本发明还提供一种内存测试方法，包括：

将内存测试程序烧录入控制芯片，包括：连接所述控制芯片；控制所述控制芯片启动模拟的DOS或UEFI运行环境；通过串口将内存测试程序导入所述控制芯片；

通过I²C总线将控制芯片内的内存测试程序下发至各测试执行组；

通过测试执行组执行所述内存测试程序生成内存测试结果，包括：每执行一次测试内存测试程序向控制芯片输出运行状态反馈；将所述内存测试结果标记所属内存的设备号；将所述内存测试结果标记执行内存测试程序的服务器的IP；

通过I²C总线将内存测试结果返回控制芯片并输出所述内存测试结果，包括：连接所述测试控制模块的串口；通过所述串口采集控制芯片内的内存测试结果。

本发明的有益效果在于，

本发明提供的内存测试装置，通过设置测试控制模块和测试执行模块两个模块，并在测试执行模块中设置多个可以执行内存测试的测试执行组，并通过测试控制模块统一控制测试执行模块的多个测试执行组进行内存测试，从而实现对内存条的批量测试。本发明实现对内存条进行批量自动化测试，大大提高了测试效率，解决了单条内存测试效率低对生产的延误问题。

本发明提供的内存测试方法通过向控制芯片烧录内存测试程序，再由控制芯片将内存测试程序通过I²C总线下发到各测试执行组，测试执行组执行内存测试程序生成内存测试结果并将内存测试结果通过I²C总线返回至控制芯片，通过串口即可读取内存测试结果。本发明能够实现对内存条进行批量自动化测试，大大提高了测试效率，且测试控制模块采用C2控制芯片，结构简单，无需专用控制服务器，节省成本。

此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。

附图说明