[发明专利]一种点灯治具及其使用方法在审
申请号: | 201910448106.0 | 申请日: | 2019-05-27 |
公开(公告)号: | CN110208972A | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 余朋飞 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 430079 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 治具 点灯 显示面板 压头 支架 上偏光片 下偏光片 阵列基板 静电 间接接地 液晶分子 背光源 偏光片 有效地 导出 良率 上移 下移 半成品 电灯 测试 释放 | ||
本发明提供一种点灯治具及其使用方法,所述点灯治具包括箱体、背光源以及支架压头;所述点灯治具的使用方法包括支架压头第一上移步骤、显示面板放置步骤以及支架压头下移步骤;本发明提供一种点灯治具及其使用方法,在显示面板被放置于点灯治具后,将阵列基板、上偏光片及下偏光片直接或间接接地,以便将阵列基板、上偏光片、下偏光片的静电及时导出,释放偏光片与液晶分子之间产生的静电,可以有效地保护显示面板半成品,提高电灯测试的准确性,提升显示面板的良率。
技术领域
本发明设计显示面板测试领域,尤其涉及一种点灯治具及其使用方法。
背景技术
在显示面板的生产领域中,必须要通过点灯检测设备对显示面板进行点灯测试(Light On Inspection,LOI),点灯测试阶段对于显示面板品质的管控相当重要,在此阶段中可以检测出显示面板是否有坏点(例如:亮点或暗点),让用户可以对不良的显示面板进行及时的拦截,避免造成浪费资源,以及可以让用户尽早对制程进行改善处理。
现有技术中,由于液晶显示面板的背光源设置在阵列基板侧,因此在对液晶显示面板进行点灯测试时,将液晶显示面板的阵列基板朝下、彩膜基板朝上放置在基台上,探针部件对阵列基板的PAD(走线)区域进行点灯测试,探针部件上设置有与待测液晶显示面板PAD区域匹配的栅线测试板和数据线测试板,栅线测试板上设置的栅线针与待测液晶显示面板PAD区域的栅线接口对应,数据线测试板上设置的数据线针与待测液晶显示面板PAD区域的数据线接口对应。在对液晶显示面板进行点灯测试时,将测液晶显示面板放置于基台上,待测液晶显示面板的栅线接口与栅线测试板的栅线针连接,待测液晶显示面板的数据线接口与数据线测试板的数据线针连接,点亮背光源,通过栅线针和数据线针控制待测液晶显示面板,检测待测液晶显示面板是否能够正常工作,是否有光点或亮线。在对液晶显示面板进行点灯测试时,因为整个阵列基板都放在基台上,较平稳且不会产生应力,故而PinMiss(即探针部件上的探针与PAD区域的接口不一一对应,出现错位)较少,点灯较为正常。
现有技术中,在阵列基板下方及彩膜基板上方均设有偏光片,液晶层设于阵列基板与彩膜基板之间。偏光片包括离型膜、偏光片本体以及偏光片保护膜。在制作显示面板的过程中,用户需要将离型膜撕掉后,才将偏光片贴到阵列基板下方或者彩膜基板上方。但在离型膜被撕掉的过程中,偏光片非常容易产生静电。在偏光片贴附完成之后,偏光片上残留的静电无法导出,偏光片容易与液晶层的液晶分子产生附加电场,在点灯测试时,液晶分子在电场作用下易发生偏转,影响点灯测试的准确性以及显示面板的良率。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种点灯治具及其使用方法,以解决现有技术中存在的偏光片容易与液晶分子产生静电,影响点灯测试的准确性以及显示面板良率的技术问题。
为了实现上述目的,本发明提供一种点灯治具,包括箱体、背光源以及支架压头;所述箱体包括顶板、底板及侧板,围成一空腔;所述顶板设有一矩形通孔;所述背光源设于所述底板上表面,所述背光源顶部设有向上突起的第一连接端子;所述支架压头设于所述矩形通孔一侧边;所述支架压头包括锁紧件、水晶头、探针以及第二端子;所述锁紧件可拆卸式安装至所述顶板的上表面;所述水晶头连接至所述锁紧件,且穿过所述矩形通孔;两个以上所述探针设于所述水晶头底面,且朝向所述底板;所述第二连接端子连接至所述水晶头。进一步地,当一显示面板被放置于所述箱体内时,所述显示面板包括下偏光片、上偏光片,所述第一连接端子连接至下偏光片;所述第二连接端子连接至上偏光片。
进一步地,当所述一显示面板被放置于所述箱体内时,所述显示面板包括阵列基板,所述探针连接至所述阵列基板一侧边缘。
进一步地,所述的点灯治具还包括驱动结构,用以驱动所述支架压头升降运动。
进一步地,所述第一连接端子、所述第二连接端子为良性导体。
进一步地,所述顶板为矩形环状;所述支架压头可拆卸连接至所述矩形通孔一侧边。
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