[发明专利]地层倾斜区的地层真实厚度确定方法和装置

说明书

本发明提供一种地层倾斜区的地层真实厚度确定方法和装置，根据探井数据获取探井钻遇目的地层的垂直方向视厚度；根据地震层位数据获取该目的地层的走向方向；根据该地震层位数据和该走向方向获取该目的地层的地层倾角；根据该垂直方向视厚度以及该地层倾角确定该目的地层的真实厚度，即本发明基于地震层位数据和探井数据，充分考虑探井井斜和地层倾角，求取地层倾斜研究区内，斜井钻遇的目的层的地层真实厚度，可以获得准确的砂体厚度、含砂率值，进而提高砂体展布预测、古地貌恢复以及储量计算的精度，利于勘探潜力评价和开发方案调整。

技术领域

本发明涉及地质研究技术领域，尤其涉及一种地层倾斜区的地层真实厚度确定方法和装置。

背景技术

地层厚度是指地层顶、底的两个界面之间的垂直距离，反映了该套地层在地质历史时期的发育情况，是恢复沉积期古地貌、计算含砂率、确定沉积中心等参数的直接依据，准确落实地层厚度对于明确一个地区沉降史及该套地层的展布特征具有重要意义。

目前，地震资料普遍应用于石油地质勘探中，地层厚度求取普遍通过地层顶、底地震精细解释、时深转换、顶底平面深度相减，得出应为地层的铅直厚度，来大致反映该套地层的沉积状态、地层发育情况。但是，当地下地层因后期构造运动而变得倾斜时，如果直接以钻井分层为界限，以探井钻遇的研究层段底深度减去顶深度作为钻遇研究层段的地层厚度，并未考虑探井井斜和地层倾角，由此计算得到的地层厚度仅属于视厚度，无法真实反映沉积地层的真实厚度，进而导致基于视厚度得到的含砂率、砂体厚度等结果存在明显误差，降低了砂体展布预测、古地貌恢复以及储量计算的精度，直接影响勘探潜力评价和开发方案调整。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种地层倾斜区的地层真实厚度确定方法和装置、电子设备以及计算机可读存储介质，基于地震层位数据和探井数据，充分考虑探井井斜和地层倾角，求取地层倾斜研究区内，斜井钻遇的目的层的地层真实厚度，可以获得准确的砂体厚度、含砂率值，进而提高砂体展布预测、古地貌恢复以及储量计算的精度，利于勘探潜力评价和开发方案调整。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

第一方面，提供一种地层倾斜区的地层真实厚度确定方法，包括：

根据探井数据获取探井钻遇目的地层的垂直方向视厚度；

根据地震层位数据获取该目的地层的走向方向；

根据该地震层位数据和该走向方向获取该目的地层的地层倾角；

根据该垂直方向视厚度以及该地层倾角确定该目的地层的真实厚度。

进一步地，该探井数据包括：探井钻遇该目的地层的底深度和顶深度；

该根据探井数据获取探井钻遇目的地层的垂直方向视厚度，包括：

利用探井钻遇该目的地层的底深度减去顶深度，得到探井钻遇该目的地层的厚度；

根据该探井钻遇该目的地层的厚度获取探井钻遇该目的地层的垂直方向视厚度。

进一步地，该探井数据包括：探井钻遇该目的地层时的井轨迹倾角；

该根据该探井钻遇该目的地层的厚度获取探井钻遇该目的地层的垂直方向视厚度，包括：

根据该井轨迹倾角和该探井钻遇该目的地层的厚度计算取探井钻遇该目的地层的垂直方向视厚度。

进一步地，该根据该井轨迹倾角和该探井钻遇该目的地层的厚度计算探井钻遇该目的地层的垂直方向视厚度采用公式：

H_vie＝H_wel×cosα_w