[发明专利]像素电路及其检测方法

说明书

本公开内容关于一种像素电路及其检测方法，其中，像素电路包含驱动电路、第一晶体管开关及第二晶体管开关。驱动电路用以驱动第一发光元件及第二发光元件。第一晶体管开关电性连接于第一发光元件的第一端，用以使第一检测电流流经第一发光元件及第二发光元件，以检测第一发光元件的第一端的第一检测电压。第二晶体管开关电性连接于第一发光元件的第二端及第二发光元件的第一端，用以使第二检测电流流经第二发光元件，以检测第二发光元件的第一端的第二检测电压。

技术领域

本公开内容关于一种像素电路，特别是用以分别检测多个发光元件是否运行正常的像素电路。

背景技术

微型发光二极管显示器(Micro LED Display)是一种微型化发光二极管的阵列结构，具有自发光显示的特性。优点包括高亮度、低功耗、体积较小、超高分辨率与色彩饱和等。相较于其他发光二极管，微型发光二极管不仅发光效能较高、寿命较长，且材料不易受到环境影响而相对稳定，能避免产生残影现象。

然而，也因为微型发光二极管的体积极小，因此在工艺中很容易因为微粒(Particle)的影响而导致短路或断路，进而让显示面板出现亮暗点，或者造成温度的异常。因此，如何针对微型发光二极管这类微型的发光元件进行检测，确保电路正常，即成为业界当前的一大课题。

发明内容

本公开内容的一实施方式为一种像素电路。像素电路包含驱动电路、第一晶体管开关及第二晶体管开关。驱动电路用以产生驱动电流，该驱动电流用以驱动第一发光元件及第二发光元件。第一晶体管开关的第一端电性连接于第一发光元件的第一端，第一晶体管开关的第二端用以接收第一检测电流。第一检测电流用以检测第一发光元件的第一端的第一检测电压。第二晶体管开关的第一端电性连接于第一发光元件的第二端及第二发光元件的第一端。第二晶体管开关的第二端用以接收第二检测电流，第二检测电流用以检测第二发光元件的第一端的第二检测电压，利用第一检测电压与第二检测电压判断第一发光元件和第二发光元件的状态并让驱动电流避开异常的发光元件。

本公开内容的另一实施方式为一种像素电路的检测方法。检测方法包含下列步骤：于检测阶段中，致能第一晶体管开关，使得第一检测电流通过第一晶体管开关，被施加至相互串联的第一发光元件及第二发光元件。于检测阶段中，禁能第一晶体管开关，且致能第二晶体管开关，使得第二检测电流通过第二晶体管开关，被施加至第二发光元件。根据第一检测电流及第二检测电流，判断第一发光元件及第二发光元件的状态。

本公开内容能检测像素电路中的第一发光元件及第二发光元件是否出现短路或断路的异常状况。根据不同的异常状况，像素电路能通过开启或关闭不同的晶体管开关，以避开异常的发光元件，驱动正常的发光元件。

附图说明

图1为根据本公开内容的部分实施例所示出的像素电路的示意图。

图2为根据本公开内容的部分实施例所示出的像素电路的运行时序图。

图3A～图3B为本公开内容的部分实施例中，像素电路的检测阶段的示意图。

图3C为本公开内容的部分实施例中，像素电路的补偿阶段的示意图。

图3D～图3F为本公开内容的部分实施例中，像素电路的驱动阶段的示意图。

图4是根据本公开内容的部分实施例所示出的像素电路的示意图。

图5A～图5B为本公开内容的部分实施例中，像素电路的检测阶段的示意图。

图5C为本公开内容的部分实施例中，像素电路的补偿阶段的示意图。

图5D～图5E为本公开内容的部分实施例中，像素电路的驱动阶段的示意图。

图6是根据本公开内容的部分实施例所示出的像素电路的示意图。

图7是根据本公开内容的部分实施例所示出的检测方法的流程图。