[发明专利]识别码读取方法在审
| 申请号: | 201910319992.7 | 申请日: | 2019-04-19 |
| 公开(公告)号: | CN110046531A | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
| 发明(设计)人: | 龚成波 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号: | G06K7/14 | 分类号: | G06K7/14 |
| 代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂;刘巍 |
| 地址: | 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 识别码 读取 图形处理 图形处理过程 解码器解码 照片获取 解码 成功率 摄像机 拍照 | ||
本发明涉及一种识别码读取方法。该识别码读取方法包括:步骤10、识别码照片获取,利用摄像机拍照获取识别码照片;步骤20、识别码图形处理,对获取的识别码照片进行图形处理;步骤30、识别码解码,利用解码器解码识别码图形。本发明的识别码读取方法通过增加识别码图形处理过程,大大提高识别码的读取成功率。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种识别码读取方法。
背景技术
识别码(ID)在薄膜晶体管(TFT)基板行业中主要用于产品的识别和信息的传递,基板上每一个单元(Chip)都会有独一无二的识别码标识,就如同每个人有一张自己的身份证一样。
参见图1,其为现有的识别码读取方法流程图。目前识别码在读取过程中,主要分为两个步骤:识别码照片获取和识别码解码两个步骤;首先利用摄像机拍照获取识别码照片,然后利用解码器解码识别码图形以获取识别码所包含的信息。
在显示面板制造工艺中,一般使用刻号机制作识别码,但是由于基板以及识别码在工艺上和生产上的差异会出现识别码异常的情况,给后续的识别码读取带来的困难。
识别码异常会使得后续解码器无法识别,相关的信息也就无法传递。识别码异常最主要的形式就是识别码位置的偏移,目前监控主要靠摄像机(VCR)来识别,偏移的数值无法直接获得,想要获得的方法只能通过手动到量测机台进行量测,再进行手动补值。
以第六代的5.5寸基板为例,每个基板上有500个左右的识别码,为了产线生产自动化,采用现有的识别码读取方法进行识别码读取,但是由于基板以及识别码在工艺上和生产上的差异所导致识别码异常的情况会降低识别码读取率,因此以目前的模式进行识别码读取不适合大规模生产的需要。
发明内容
因此,本发明的目的在于提供一种识别码读取方法,提升识别码读取率。
为实现上述目的,本发明提供了一种识别码读取方法,主要包括:
步骤10、识别码照片获取,利用摄像机拍照获取识别码照片;
步骤20、识别码图形处理,对获取的识别码照片进行图形处理;
步骤30、识别码解码,利用解码器解码识别码图形。
其中,所述识别码为二维码。
其中,所述步骤20包括步骤21、放大识别码图形的识别码点尺寸标准。
其中,所述识别码点尺寸标准放大到至少60微米。
其中,所述步骤20包括步骤22、预设识别码点外观变更比值参数,根据实际识别码点面积填充理想识别码点标准面积的比值与比值参数的比较结果进行识别码点外观变更。
其中,当实际识别码点面积填充理想识别码点标准面积的比值超过所述比值参数时,则该实际识别码点在外观变更处理完后的识别码点图形为填满识别码点标准面积的识别码点;当实际识别码点面积填充理想识别码点标准面积的比值低于所述比值参数时,该实际识别码点在外观变更处理完后的识别码点图形为空白。
其中,所述比值参数为40%。
其中,所述比值参数根据识别码异常状况进行调整。
其中,所述步骤20包括步骤23、根据颗粒面积填充理想识别码点标准面积的比值与比值参数的比较结果进行识别码点外观变更。
综上,本发明的识别码读取方法通过增加识别码图形处理过程,大大提高识别码的读取成功率。
附图说明
下面结合附图,通过对本发明的具体实施方式详细描述,将使本发明的技术方案及其他有益效果显而易见。
附图中,
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