[发明专利]空间光度分布快速测量方法及光度测量装置

权利要求书

1.一种空间光度分布快速测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1：将待测光源放置于转台上，将光度探头固定于支架上并令所述光度探头的探测面朝向所述待测光源；将所述光度探头的信号输出端连接于低通滤波器的信号输入端，将所述低通滤波器的信号输出端连接于计算机；

S2：控制所述转台连续转动，转动速度为V_S；

S3：控制所述光度探头每隔t₁对转动中的所述待测光源进行光强测量；

S4：所述计算机对所述低通滤波器输出的信号进行处理，获得所述光度探头检测到的所述待测光源的光强随所述转台的转角变化的函数；

所述低通滤波器的截止频率F_c由下式确定：

F_c²＝2CF_fF_s；其中：

C＝2～4，为常系数；

F_f为所述待测光源的频闪频率；

F_s＝max(K_zV_s,1)，其中其中为所述待测光源的光强在所述光度探头的探测范围内相对于探测角度的变化率，I_max为所述待测光源在所述光度探头的探测范围内的最大光强。

2.根据权利要求1所述空间光度分布的快速测量方法，其特征在于，t₁满足下式：

t₁≥t₂；

其中，t₂为所述光度探头的响应时间。

3.一种用于实现权利要求1所述方法的光度测量装置，包括光度探头以及计算机，其特征在于，所述光度测量装置还包括低通滤波器，所述光度探头的信号输出端连接于所述低通滤波器的信号输入端，所述低通滤波器的信号输出端连接于所述计算机。