[发明专利]电子元器件传送装置及电子元器件检查装置

说明书

本申请提供电子元器件传送装置及电子元器件检查装置，可以在电子元器件的传送中途对电子元器件进行至少两种检查。一种电子元器件传送装置，将电子元器件传送至对电子元器件进行第一检查的第一检查部以及对电子元器件进行与第一检查不同的第二检查的第二检查部，该电子元器件传送装置具备：保持电子元器件的保持部；载置电子元器件的移动载置部；以及控制保持部的控制部，控制部使保持部将电子元器件从移动载置部传送至第一检查部，使保持部将进行了第一检查后的电子元器件从第一检查部传送至移动载置部，并使保持部将电子元器件从移动载置部传送至第二检查部。

技术领域

本发明涉及电子元器件传送装置及电子元器件检查装置。

背景技术

在现有技术中，例如在进行诸如IC器件等电子元器件的电气检查时，采用传送电子元器件的IC处理机(例如，参照专利文献1)。专利文献1记载的IC处理机是设置有连接于测试仪的测试用插座的状态。此外，在该状态下传送电子元器件，在其传送中途将电子元器件配置于测试用插座，对该电子元器件进行一种检查。

专利文献1：日本专利特开2000-088918号公报

专利文献1记载的IC处理机无法对电子元器件进行多种检查，在完成了一种检查之后，需要将该检查完毕的电子元器件重新载置于托盘，将该托盘转移到进行其它种类的检查的IC处理机。

发明内容

本发明是为了解决上述技术问题而做出的，可作为以下方面来实现。

本发明的电子元器件传送装置其特征在于，能够配置载置电子元器件的载置部件，该电子元器件传送装置具备：传送部，传送所述电子元器件；第一区域，第一检查部配置于所述第一区域，该第一检查部载置所述电子元器件，对所述电子元器件进行第一检查；以及第二区域，第二检查部配置于所述第二区域，该第二检查部载置所述电子元器件，对所述电子元器件进行与所述第一检查不同的第二检查，所述传送部具有：保持部，保持所述电子元器件，将其依次载置于所述第一检查部和所述第二检查部；以及回收部，将进行了所述第一检查和所述第二检查后的所述电子元器件载置于所述载置部件。

本发明的电子元器件检查装置其特征在于，能够配置载置电子元器件的载置部件，该电子元器件检查装置具备：传送部，传送所述电子元器件；第一检查部，载置所述电子元器件，对所述电子元器件进行第一检查；第一区域，所述第一检查部配置于所述第一区域；第二检查部，载置所述电子元器件，对所述电子元器件进行与所述第一检查不同的第二检查；以及第二区域，所述第二检查部配置于所述第二区域，所述传送部具有：保持部，保持所述电子元器件，将其依次载置于所述第一检查部和所述第二检查部；以及回收部，将进行了所述第一检查和所述第二检查后的所述电子元器件载置于所述载置部件。

附图说明

图1是从正面侧观察本发明的电子元器件检查装置的第一实施方式的概略立体图。

图2是示出图1所示的电子元器件检查装置的动作状态的概略平面图。

图3是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。

图4是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。

图5是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。

图6是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。

图7是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。

图8是依次示出图1所示的电子元器件检查装置的检查区域及其前后的动作状态的放大垂直截面图。