[发明专利]高速电主轴性能测试装置有效
| 申请号: | 201910159261.0 | 申请日: | 2019-03-04 |
| 公开(公告)号: | CN111721526B | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
| 发明(设计)人: | 王刚;戴野 | 申请(专利权)人: | 宁波天控五轴数控技术有限公司 |
| 主分类号: | G01M13/02 | 分类号: | G01M13/02;G01M13/028;G01D21/02 |
| 代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 张德才 |
| 地址: | 315000 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 高速 主轴 性能 测试 装置 | ||
本发明公开一种适用范围广、测试精度高、测试成本低的高速电主轴性能测试装置,包括多个可拼接滑轨板相连围成环形筒,相邻的两个可拼接滑轨板转动连接,各可拼接滑轨板上均电连接有多通道通信接口;位移传感器测量振动位移信息,位移传感器滑动电连接于可拼接滑轨板上;温度传感器测量轴承的温度信息,温度传感器滑动电连接于可拼接滑轨板上;加速度传感器测量振幅信息,加速度传感器滑动电连接于可拼接滑轨板上;各多通道通信接口均与通信线缆的一端电连接,通信线缆的另一端与多通道数据采集仪电连接,多通道数据采集仪用于接收并存储通信线缆输出的信息数据,并显示被测电主轴的轴头的振动位移信息、轴承的温度信息和振幅信息。
技术领域
本发明涉及设备检测技术领域,特别是涉及一种高速电主轴性能测试装置。
背景技术
随着现代加工向高速化的迅速发展,对电主轴要求越来越高,现有高速电主轴在技术更新中需要大量的实验来检测电主轴性能,现有高速电主轴内部结构复杂,为简便结构,通常忽略各项传感器的配置;目前实验过程中,传感器配置繁琐,不能一次得到多项参数,导致测试精度降低;且往往采取破坏外表面的方式,使电主轴不能二次使用,只适用于一种规格的电主轴性能测试,增加经济成本。
发明内容
本发明的目的是提供一种适用范围广、测试精度高、测试成本低的高速电主轴性能测试装置,以解决上述现有技术存在的问题。
为实现上述目的,本发明提供了如下方案:
本发明提供一种高速电主轴性能测试装置,包括可拼接滑轨板、位移传感器、温度传感器、加速度传感器和多通道数据采集仪,多个所述可拼接滑轨板相连围成环形筒,相邻的两个所述可拼接滑轨板转动连接,各所述可拼接滑轨板上均电连接有一多通道通信接口,所述环形筒能够套设于被测电主轴外;所述位移传感器用于测量并输出被测电主轴的轴头的振动位移信息,所述位移传感器滑动电连接于所述可拼接滑轨板上;所述温度传感器用于测量并输出被测电主轴的轴承的温度信息,所述温度传感器滑动电连接于所述可拼接滑轨板上;所述加速度传感器用于测量并输出被测电主轴的振幅信息,所述加速度传感器滑动电连接于所述可拼接滑轨板上;各所述多通道通信接口均与一通信线缆的一端电连接,所述通信线缆的另一端与所述多通道数据采集仪电连接,所述多通道数据采集仪用于接收并存储所述通信线缆输出的信息数据,并显示被测电主轴的轴头的振动位移信息、被测电主轴的轴承的温度信息和被测电主轴的振幅信息。
优选的,相邻的两个所述可拼接滑轨板之间通过铰链连接。
优选的,所述铰链与所述可拼接滑轨板可拆卸连接。
优选的,各所述可拼接滑轨板上均设置有位移通信滑轨、温度通信滑轨和加速度通信滑轨,所述位移通信滑轨、所述温度通信滑轨和所述加速度通信滑轨均与所述多通道通信接口电连接;所述位移传感器上设置有与所述位移通信滑轨滑动电接触的第一通信滑道;所述温度传感器上设置有与所述温度通信滑轨滑动接触的第二通信滑道;所述加速度传感器基座上设置有与所述加速度通信滑轨滑动电接触的第三通信滑道。
优选的,所述多通道数据采集仪上设置有显示窗口组,所述显示窗口组包括用于显示被测电主轴的轴头的振动位移信息的位移显示窗口、用于显示被测电主轴的轴承的温度信息的温度显示窗口和用于显示被测电主轴的频谱分析曲线的振动显示窗口。
优选的,所述多通道数据采集仪上设置有控制按钮,所述控制按钮用于控制所述多通道数据采集仪内存储的数据采集以及调节所述显示窗口组的显示精度。
优选的,各所述可拼接滑轨板上均设置有一个所述位移传感器、两个温度传感器和两个加速度传感器。
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