[发明专利]一种用于制备电化学腐蚀测试试样的装置及方法

权利要求书

1.一种用于制备电化学腐蚀测试试样的装置，其特征在于，包括：

支撑底座；

支撑杆，所述支撑杆垂直设置在所述支撑底座的端部；

升降支架，所述升降支架包括第一部分和第二部分，且所述第一部分和所述第二部分垂直设置，其中，所述第一部分与所述支撑杆远离所述支撑底座的一端垂直设置；

电磁铁，所述电磁铁与所述第二部分远离所述第一部分的一端连接；

锥形模具，所述锥形模具的大端与所述电磁铁远离所述第二部分的一端连接，所述锥形模具的小端连接试样；

加热台，所述加热台设置在所述支撑底座上；

烧杯，所述烧杯设置在所述加热台上，且所述烧杯具有一容置空间，所述容置空间内可容置所述试样。

2.如权利要求1所述的用于制备电化学腐蚀测试试样的装置，其特征在于，还包括:

所述锥形模具上具有上限刻度线和下限刻度线，其中，所述下限刻线与所述锥形模具小端之间的距离为2mm，所述上限刻线与所述锥形模具小端之间的距离为5mm。

3.如权利要求2所述的用于制备电化学腐蚀测试试样的装置，其特征在于，所述容置空间内容置石蜡。

4.如权利要求1所述的用于制备电化学腐蚀测试试样的装置，其特征在于，所述锥形模具采用铁磁性材料制成，且所述锥形模具的锥度为1:10以上，其中，所述锥形模具的小端面积小于与所述试样相贴合面的测试面积。

5.如权利要求1-4任一项所述的用于制备电化学腐蚀测试试样的装置，其特征在于，还包括:

锥形四脚块，所述锥形四脚块具有四个支脚，且所述四个支脚与所述试样底部相贴合，其中，所述四个支脚中每个支脚的锥度大于或等于1:10，且每个支脚与所述试样相接触的圆面直径不大于5mm。

6.如权利要求5所述的用于制备电化学腐蚀测试试样的装置，其特征在于，所述锥形四脚块采用铁磁性材料制成。

7.一种用于制备电化学腐蚀测试试样的方法，其特征在于，包括：

步骤1：向烧杯内加入预设体积的石蜡后，开启加热台，使所述石蜡融化为石蜡液；

步骤2：将试样的上表面与锥形模具的下表面相贴合，其中，所述试样为电磁性材料；

步骤3：将所述锥形模具的上表面置于电磁铁的下方，开启所述电磁铁；

步骤4：开启升降支架，使所述试样和所述锥形模具浸入所述石蜡液中，直至所述石蜡液面位于锥形模具的上限刻度线和下限刻度线之间；

步骤5：当浸入时间满足第一预定时间后，操作所述升降支架，使所述锥形模具、试样与石蜡液面分离，在空气中静置第二预定时间后关闭所述电磁铁。

8.如权利要求7所述的用于制备电化学腐蚀测试试样的方法，其特征在于，所述在空气中静置第二预定时间后关闭所述电磁铁之后，还包括：

将所述锥形模具与所述试样分离，并获得石蜡封装后的所述试样。

9.如权利要求7所述的用于制备电化学腐蚀测试试样的方法，其特征在于，还包括：

当所述试样为非铁磁性材料时，将锥形四脚块放置在所述试样的下方，其中，所述锥形四脚块采用铁磁性材料制成。

10.如权利要求7所述的用于制备电化学腐蚀测试试样的方法，其特征在于，还包括：

所述第一预定时间为3～5s；且/或，

所述第二预定时间为3～5s。