[发明专利]重复读取方法

说明书

本发明涉及一种以适应性学习寻找参数的重复读取方法，重复读取方法包括收集若干组环境状况资料的步骤。这些环境状况资料报括但不限于字符线层、写的温度、擦的温度、资料块擦写次数及模式。模式包括但不限于资料保存、读取扰动及开放区块。然后，依该若干组环境状况资料，取得若干组重复读取所需的参数。然后，从该若干组参数，通过追踪模组，计算一组最佳参数。然后，以该组最佳参数重复读取资料。然后，判断该笔资料是否正确。若该笔资料错误，则依差异值，透过学习算法，调整计算模块的加权值，并回到计算最佳参数的步骤。若该笔资料正确，则结束。

技术领域

本发明关于重复读取，特别关于一种以适应性学习寻找参数的重复读取方法。

背景技术

NAND快闪记忆体被用于贮存资料。然而，资料被存入NAND快闪记忆体以后，其阀值电压就依时间而漂移。当资料的阀值电压漂移超过一程度，即可能读不到这资料，亦即产生错误位(或「不可读位」)。当NAND快闪记忆体的容量愈来愈大，可能的错误位数就愈来愈大。另外，写擦次数愈多，或温度变化愈大，就可能产生愈多错误位。

参考图2，依传统重复读取方法，第一次读资料时，用正常读取功能。然后，判断资料是否正确。若然，则结束，否则用第一组参数进行第一次重复读取。然后，判断资料的是否正确。若然，则结束，否则用第二组参数进行第二次重复读取。以此类推，直到第N次重复读取后资料正确。这传统重复读取方法是尝试错误。重复读取次数愈多，迟滞愈久，亦即效能愈低。因此，这传统重复读取方法耗时甚久而呈现甚低效能。

发明内容

有鉴于上述习知技艺的问题，本发明的目的是提供一种有效率的重复读取方法。

为达成上述目的，本发明的重复读取方法包括以下步骤：

(S10)收集一资料贮存装置的若干组环境状况资料；

(S12)依该若干组环境状况资料，取得若干组对应重复读取所需的参数；

(S14)从该若干组参数，通过追踪模组计算出最佳参数；

(S16)以该最佳参数重复读取资料；

(S18)判断该资料是否正确；

(S20)若该资料不正确，则利用学习算法调整追踪模组的加权值，并回到计算出最佳参数的步骤(S14)；

(S22)若该资料正确，则结束；

最后会为该资料贮存装置获得一组最佳加权值，且该资料贮存装置的这组最佳加权值可被用于同一批的其他资料贮存装置。

进一步的，该环境状况资料报括字符线层、资料块的写擦次数、写的温度、读的温度及模式。

进一步的，该模式包括读取扰动、资料保存及开放资料块。

进一步的，提供一最佳参数的步骤包括以下步骤：用一人工智能模块提供该最佳参数。

附图说明

图1是本发明的重复读取方法的一较佳实施例的一流程图；

图2是先前技艺的重复读取方法的一流程图。

具体实施方式

以下参考相关附图说明本发明的较佳实施例。为便于说明本发明，用相同符号标示相同组件或步骤。

图1显示本发明的重复读取方法的较佳实施例。一制造商在交一批NAND快闪记忆体给一使用者以前，可从这批NAND快闪记忆体取样品，并对样品执行该重复读取方法。如此，得一组参数。制造商交NAND快闪记忆体给使用者以后，使用者可用此组参数执行该重复读取方法而快速且有效读取资料。