[发明专利]一种用于校准扫描探针显微镜的方法在审
申请号: | 201910083772.9 | 申请日: | 2019-01-29 |
公开(公告)号: | CN109991447A | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 董国材 | 申请(专利权)人: | 常州国成新材料科技有限公司 |
主分类号: | G01Q40/00 | 分类号: | G01Q40/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 扫描探针显微镜 钛酸锶 钛氧 计量测试技术 测量台阶 测量物质 校准系数 形貌分析 形貌图像 校准 单台阶 溯源 尺度 评估 | ||
1.一种用于校准扫描探针显微镜的方法,其特征包括如下步骤:a. 获得钛氧终止的钛酸锶(001)表面,表面大部分台阶为单台阶;b. 利用扫描探针显微镜获得该表面的形貌图像,测量台阶高度;c. 将所测得的台阶高度对比钛酸锶(001)钛氧终止面台阶的原子高度(0.3905nm),获得扫描探针显微镜的在1nm尺度的校准系数。
2.根据权利要求1所述的一种用于校准扫描探针显微镜的方法,其特征是:所述的钛氧终止的钛酸锶(001)表面,为其表面钛氧覆盖的面积大于80%。
3.根据权利要求1所述的一种用于校准扫描探针显微镜的方法,其特征是:所述的表面大部分台阶为单台阶,单台阶占表面台阶比例80%。
4.根据权利要求1所述的一种用于校准扫描探针显微镜的方法,其特征是:所述的扫描探针显微镜,包括扫描隧道显微镜、原子力显微镜、静电力显微镜、磁力显微镜、扫描离子电导显微镜、扫描电化学显微镜等。
5.根据权利要求1所述的一种用于校准扫描探针显微镜的方法,其特征是:所述的获得具有原子台阶的钛氧终止面的钛酸锶表面的方法,为酸洗法,水洗法,管式炉退火法,真空退火法的一种或多种的组合。
6.根据权利要求1所述的一种用于校准扫描探针显微镜的方法,其特征是:所述的利用扫描探针显微镜获得该表面的形貌图像,包括调整扫描探针显微镜的状态,对钛氧终止面的钛酸锶表面进行原子级的成像。
7.根据权利要求1所述的一种用于校准扫描探针显微镜的方法,其特征是:所述的利用所测量的台阶高度对比钛酸锶(001)面钛氧终止面台阶的原子高度,获得扫描探针显微镜的在1nm尺度的校准系数为,钛酸锶(001)面钛氧终止面台阶的原子高度的理论高度为0.3905 nm,这个数值可以通过衍射的方法测定并溯源。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州国成新材料科技有限公司,未经常州国成新材料科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910083772.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。