[发明专利]一种基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测系统和方法在审
| 申请号: | 201910081962.7 | 申请日: | 2019-01-28 |
| 公开(公告)号: | CN109817129A | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
| 发明(设计)人: | 阳芬;许恩 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 黄行军 |
| 地址: | 430070 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 处理模块 接口实现 液晶模组 检测系统 检测 图像压缩处理模块 流程控制模块 时序控制信号 指令发送模块 指令获取模块 处理流程 低速信号 叠加处理 工作启动 功能扩展 控制指令 用户要求 对模 回传 架构 芯片 灵活 应用 | ||
1.一种基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测系统,其特征在于,包括:
指令获取模块接收从上位机传过来的控制液晶模组状态控制指令;流程控制模块依据所述控制指令产生时序控制信号,以及CPHY协议LP处理模块和CPHY协议HS处理模块的工作启动信号;CPHY协议LP处理模块对获取的控制指令按CPHY协议进行组包,进行编码处理,并将编码后的LP信号发送给指令发送模块;指令发送模块将所述LP信号分成3-wire输出;
图像压缩处理模块通过所述图像获取模块接收图像数据,并对所述图像数据按照Mipi-dsc压缩算法进行压缩;CPHY协议HS处理模块对图像数据按CPHY协议进行组包,对组包后的数据进行分lane处理,发送至物理信号映射处理模块完成逻辑端口到物理端口的映射;
高速/低速信号叠加处理模块通过反向接收端口将3-wire上接收的数据回传给检测处理模块,检测处理模块对模组回传的数据进行检测。
2.根据权利要求1所述的一种基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测系统,其特征在于,所述控制指令包括:模组点屏控制码流,lane数,水平/垂直方向前后肩参数、分辨率、刷新率。
3.根据权利要求1所述的一种基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测系统,其特征在于:所述CPHY协议LP处理模块对获取的控制指令按CPHY协议进行组包,以8b为单元增加LP起始包、LP包头、ecc校验、crc16校验码、LP结束包字段。
4.根据权利要求3所述的一种基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测系统,其特征在于:所述CPHY协议LP处理模块对组包后的数据进行one-hot编码处理,编码后的数据发送给指令发送模块处理。
5.根据权利要求1所述的一种基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测系统,其特征在于:CPHY协议HS处理模块对获取的图像数据按CPHY协议进行组包处理,以16b为单元增加sync同步包、HS像素数据包头、ssdc检测码、crc12校验码、crc16校验码、sync结束包字段。
6.根据权利要求1所述的一种基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测系统,其特征在于:CPHY协议HS处理模块通过识别流程控制模块送过来的lane数对组包后的数据进行分lane处理,按照lane的个数依次把16b数据排布到对应lane上,将分好lane的数据发送至所述物理信号映射处理模块处理。
7.根据权利要求1所述的一种基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测系统,其特征在于:高速/低速信号叠加处理模块的CPHY接口每lane含3-wire接口,LP/HS信号在发送是时分复用其中的3-wire端口。
8.根据权利要求1所述的一种基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测系统,其特征在于,所述检测处理模块包括:id值获取单元,用于在模组点亮后通过回读模组内部寄存器模组的状态,回读模组id寄存器,获取模组的id值;判断单元通过与检测处理模块内部设定的id值进行比对判断是否一致,若是,则所述id值属于当前模组,若否,则更换当前模组或停止监测。
9.根据权利要求1所述的一种基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测系统,其特征在于:所述检测处理模块还包括gamma测试单元,通过光学检测设备获取模组当前的gamma值,通过多次获取到一系列的gamma值后,判断检测到的gamma值是否偏离了gamma曲线,若是,则反馈给上位机启动重新改写gamma寄存器值流程,通过CPHY协议LP处理等模块把改写的gamma寄存器值传输给模组。
10.一种基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测方法,其特征在于,所述方法基于权利要求1-9所述的基于Mipi CPHY接口实现的液晶模组检测系统实现,所述方法包括如下步骤:
1)指令获取模块接收从上位机传过来的控制液晶模组状态控制指令;流程控制模块依据所述控制指令产生时序控制信号,以及CPHY协议LP处理模块和CPHY协议HS处理模块的工作启动信号;
2)CPHY协议LP处理模块对获取的控制指令按CPHY协议进行组包,进行编码处理,并将编码后的LP信号发送给指令发送模块;指令发送模块将所述LP信号分成3-wire输出;
3)图像压缩处理模块通过所述图像获取模块接收图像数据,并对所述图像数据按照Mipi-dsc压缩算法进行压缩;
4)CPHY协议HS处理模块对图像数据按CPHY协议进行组包,对组包后的数据进行分lane处理,发送至物理信号映射处理模块完成逻辑端口到物理端口的映射;
5)高速/低速信号叠加处理模块通过反向接收端口将3-wire上接收的数据回传给检测处理模块;
6)检测处理模块对模组回传的数据进行检测,模组点亮后通过回读模组内部寄存器值获取模组的状态,回读模组id寄存器,获取模组的id值,通过与检测处理模块内部设定的id值进行比对判断是否一致,完成id值的检测。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司,未经武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910081962.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





