[发明专利]分析装置

说明书

本发明目的在于更精密地控制试样气化室的温度。本发明的分析装置，具备：试样气化室，供试样注入，在试样为液体试样的情况下使注入的液体试样气化；第一温度调节部以及第二温度调节部，调节试样气化室的温度；检测部，对被分离柱分离的试样进行检测，分离柱与试样气化室连接并对气体状态的试样进行分离。

技术领域

本发明涉及分析装置。

背景技术

在气相色谱仪中，成为气体状态的试样(以下称为试样气体)经由试样气化室导入分离柱，在分离柱中将该试样气体的各成分分离。此时，为了将沸点不同的各种试样气体的成分高效地导入分离柱，或在分离柱更精密地将试样气体的各成分分离，而提出有调节试样气化室的温度的方法。

例如，在专利文献1的方法中，提出了一种将传热块的至少一部分作为分割结构，并配设调节该分割结构的间隙部分的部件而成的试样气化室。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2005-10102号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

在专利文献1的方法中，对用于调节传热块的间隙部分的试样气化室的结构等有一定的限制。期望提出进一步控制试样气化室的温度的方案。

用于解决上述技术问题的方案

本发明优选的实施方式的分析装置具备：试样气化室，供试样注入，在所述试样为液体试样的情况下使注入的所述液体试样气化；第一温度调节部以及第二温度调节部，调节所述试样气化室的温度；检测部，对被分离柱分离的所述试样进行检测，所述分离柱与所述试样气化室连接并对气体状态的所述试样进行分离。

在更优选的实施方式中，所述第一温度调节部调节所述试样气化室的第一部分的温度，所述第二温度调节部调节所述试样气化室的与所述第一部分不同的第二部分的温度。

在更优选的实施方式中，所述第一温度调节部能够以使所述第一部分的温度上升以及/或者下降的方式进行调节，与所述第二部分相比，所述第一部分配置于更远离所述分离柱的位置。

在更优选的实施方式中，所述第二温度调节部能够以使所述第二部分的温度上升以及/或者下降的方式进行调节。

在更优选的实施方式中，所述第二温度调节部利用加热器的热使所述第二部分的温度上升。

在更优选的实施方式中，所述第二温度调节部通过冷却机构以及/或者不燃性的液化气体使所述第二部分的温度下降。

在更优选的实施方式中，所述第一温度调节部经由与所述第一部分对置的第一传热体而对所述第一部分的温度进行调节，所述第二温度调节部经由与所述第二部分对置、且与所述第一传热体不同的第二传热体而对所述第二部分的温度进行调节。

在更优选的实施方式中，所述第二温度调节部通过送风机将被加热器加热后的气体吹送至所述第二传热体从而对所述第二部分进行加热、以及/或者将被冷却机构和/或不燃性的液化气体冷却后的气体吹送至所述第二传热体从而对所述第二部分进行冷却。

在更优选的实施方式中，所述第一传热体以及所述第二传热体分别具备配置有温度传感器的金属块。

在更优选的实施方式中，具备输入部，分别输入所述第一部分以及所述第二部分的设定温度。

在更优选的实施方式中，具备气相色谱仪。

发明效果

根据本发明，能够对试样气化室的多个部分的温度进行调节等，能够精密地调节试样气化室的温度。

附图说明

图1是示出第一实施方式的分析装置的概略构成的图。