[发明专利]一种测试广角镜头分辨率的装置及其方法有效
申请号: | 201910067509.0 | 申请日: | 2019-01-24 |
公开(公告)号: | CN111473956B | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
发明(设计)人: | 刘辉;关锐 | 申请(专利权)人: | 深圳市共进电子股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 深圳市华盈知识产权代理事务所(普通合伙) 44543 | 代理人: | 王松柏;周婵 |
地址: | 518000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 广角镜头 分辨率 装置 及其 方法 | ||
1.一种测试广角镜头分辨率的装置,其特征在于,由固定支架、目标标靶、待测的广角镜头和照明装置组成;所述目标标靶设置于所述固定支架的端面,且靠近所述待测的广角镜头的一端,所述待测的广角镜头与所述目标标靶之间的距离可调,所述照明装置设置于所述待测的广角镜头的另一端;
所述目标标靶由相互独立的空间频率模块、摩尔条纹模块和MTF测试模块组成,所述空间频率模块、摩尔条纹模块和MTF测试模块的线条根据所述待检测的广角镜头的畸变进行预畸变校正所得;其中:所述空间频率模块,用于通过人眼读取所述目标标靶的分辨率数值;所述摩尔条纹模块,用于初步判定所述目标标靶的清晰度;所述MTF测试模块,用于通过对应软件读取所述目标标靶的分辨率数值;
所述空间频率模块的空间频率线宽根据如下公式确定:△d=W/lp,其中:△d为空间某个频率的线宽,W为所述待测的广角镜头的传感器的有效像面宽,lp为空间线对数。
2.根据权利要求1所述的测试广角镜头分辨率的装置,其特征在于,所述目标标靶和所述待测的广角镜头处于同一光轴。
3.根据权利要求1所述的测试广角镜头分辨率的装置,其特征在于,所述照明装置有两个,平行设置于所述待测的广角镜头的另一端;所述待测的广角镜头为角度120~170度的镜头。
4.根据权利要求1所述的测试广角镜头分辨率的装置,其特征在于,所述目标标靶为预畸变校正图形。
5.根据权利要求1所述的测试广角镜头分辨率的装置,其特征在于,所述摩尔条纹模块的摩尔条纹宽度占用1~2个像元。
6.运用权利要求1-5任一项所述的装置测试广角镜头分辨率的方法,其特征在于,包括如下步骤:通过所述待测的广角镜头的畸变数据获得所述待测的广角镜头理论放大率对像高的变化曲线公式:
Tem=1+a*ri+b*ri2+c*ri3+d*ri4+e*ri5;
同时结合所述待测的广角镜头的传感器上实际像点的坐标位置P'(x',y'),通过下述公式计算出理想像点的坐标位置P0'(x0',y0'),然后根据所述待测的广角镜头距离所述目标标靶的距离以及所述传感器的参数计算出目标标靶所在位置时所对应的镜头理想放大率β,最后计算出所述目标标靶上的对应点的坐标位置P(x,y);具体实现方式为:
ri=x'2+y'2;
x0'=x'/Tem;
y0'=y'/Tem;
x=x0'*β;
y=y0'*β;
其中:Tem为对应像高的放大率;a、b、c、d、e为所述待测的广角镜头的畸变系数;ri为像面上的实际像高,x’,y’为像面上实际像高点的坐标;x0’,y0’为对应的理想像高的坐标点;x,y为与理想像高对应的目标标靶上的某点坐标;β为待测的广角镜头的理想放大率参数。
7.根据权利要求6所述的测试广角镜头分辨率的方法,其特征在于,所述畸变数据为实际像高对应的光学畸变的数据;所述传感器的参数为像元尺寸和像素阵列。
8.根据权利要求6所述的测试广角镜头分辨率的方法,其特征在于,所述待测的广角镜头的理想放大率参数β由如下公式计算得到:β=l/f,其中:l为所述待测的广角镜头到所述目标标靶的距离,f为所述待测的广角镜头的焦距。
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