[发明专利]一种SIW超结构正交环耦合结构有效
申请号: | 201910046735.0 | 申请日: | 2019-01-18 |
公开(公告)号: | CN109728384B | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 汪晓光;田松杰;陈良;陈凤婷 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01P1/20 | 分类号: | H01P1/20 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 甘茂 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 siw 结构 正交 耦合 | ||
【权利要求书】:
1.一种SIW超结构正交环耦合结构,所述耦合结构设置于双层SIW传输线的中间金属板上,位于所述中间金属板的中心点位置;所述双层SIW传输线中填充空气介质;其特征在于:
所述耦合结构由两层嵌套的环形槽构成,两层环形槽圆心重合,且与所述中间金属板的中心点重合;每层环形槽包括两个尺寸相同的圆弧形槽,两个圆弧形槽开口正对、且两端保持相同间距;两层环形槽中圆弧形槽的开口方向正交相差90度。
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