[发明专利]一种多功能光学模组测试台座

说明书

本发明提出一种多功能光学模组测试台座，包括：上压板、定位块、热传导片、探针模块、连接器压块和底座；定位块、热传导片安装在底座上，定位块至少包括第一定位块和第二定位块，并位于热传导片的上面，第一定位块和第二定位块组成错层凹槽，以使待测光学模组放入凹槽中；根据不同类型的所述待测光学模组，探针模块和连接器压块分别安装在上压板和所述底座上，或者分别安装在底座和上压板上，以使所述上压板和底座扣合时，使所述待测光学模组通电。本发明的多功能光学模组测试台座，能够避免因加工件的局限性造成的影响测试效率和精度的问题，同时也使得加工形式多样化，并且本发明的定位块形成的错层凹槽结构，减少了加工难度。

技术领域

本发明涉及光学模组测试领域，尤其涉及一种多功能光学模组测试台座。

背景技术

光学模组广泛应用于手机、机器人、VR/AR以及各种智能视觉硬件市场等领域，随着光学模组产品需求的扩大，为了保证产品的良品率，提高用户的体验，光学模组的检测已成为生产过程中非常重要的一个环节。其中，模组测试台座是各检测设备的其中一部分，其可以承载并固定光学模组，且可以将模组运输至相应的测试位进行对应的光学性能检测。

然而，现有技术中，测试台座的通用性、定位性以及耐磨损性等诸多方面的性能还存在一些不足，例如，每个测试台座只能放置同一类型或相同系列的模组，当测试不同种类的光学模组时，便需要更换整个测试台座，这会对测试效率和精度均产生不良影响。又例如，现有技术测试台座的热传导片和定位块采用底部断差式组合结构定位模组，这种结构会使模组定位时的精度较差(偏移/倾斜量的精度)，如果不采用断差式，则要求定位块足够薄以使其不影响模组的测试，这又会造成定位块的磨损相对较快。因此，有必要发展一种新的光学模组测试台座，以使其能克服上述问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术的测试台座在通用性、定位性以及耐磨损性等方面的不足，提出一种多功能光学模组测试台座。

本发明的多功能光学模组测试台座，包括：上压板、定位块、热传导片、探针模块、连接器压块和底座；所述定位块、热传导片安装在所述底座上，所述定位块至少包括第一定位块和第二定位块，并位于所述热传导片的上面，所述第一定位块和第二定位块组成错层凹槽，以使待测光学模组放入所述凹槽中；根据不同类型的所述待测光学模组，所述探针模块和连接器压块分别安装在所述上压板和所述底座上，或者分别安装在所述底座和上压板上，以使所述上压板和底座扣合时，使所述待测光学模组通电。

在优选的实施方式中，所述待测光学模组上设有柔性电路板通电连接器，用于在测试时与所述探针模块接触连接，并在所述连接器压块进一步扣紧时使得所述待测光学模组通电。

在优选的实施方式中，所述定位块可拆卸地安装在所述底座上，并且根据所述待测光学模组的类型，所述定位块的大小和/或位置能够调节，或者所述定位块能够被更换。在优选的实施方式中，所述热传导片整体加工后固定在所述定位块的下面。更优选地，所述热传导片为陶瓷片，所述陶瓷片上设有一个以上的测温孔。

在优选的实施方式中，所述上压板上设有U型槽和螺孔，所述探针模块或者连接器压块能够沿着所述U型槽移动，所述连接器压块或探针模块通过所述螺孔可拆卸地安装在所述上压板上。在优选的实施方式中，所述上压板上还设有引导定位销，用于准确地控制所述探针模块或者连接器压块的偏移量。在优选的实施方式中，所述上压板可拆卸地连接在所述底座的一端。

在优选的实施方式中，所述第一定位块具有伸出的上边沿，所述第二定位块具有伸出的下边沿，所述上边沿和下边沿构成所述错层凹槽。所述待测光学模组放入所述错层凹槽后，能够与所述第一定位块和所述第二定位块形成回字形。

与现有技术相比，本发明的有益效果有：