[发明专利]滑动轴承紧余量高度测量方法和装置

说明书

用于确定滑动轴瓦的紧余量高度的方法和装置，该装置包括：用于向滑动轴瓦形成照明光的光源；被配置用于拍摄图像的传感器设备；包括计算机程序代码的至少一个存储器；该至少一个存储器和计算机程序代码被配置为与至少一个处理器一起使所述装置：拍摄滑动轴瓦在第一模式下的第一图像，其中在滑动轴瓦的周向方向上未形成外部压缩应力；基于所拍摄的第一图像生成滑动轴承数据；维护至少包括用于容纳滑动轴瓦的孔的直径信息的壳参考数据；并且基于滑动轴承数据和壳参考数据确定滑动轴瓦的紧余量高度。

技术领域

本申请总体上涉及滑动轴承(plain bearing)紧余量高度(crush height)测量方法、设备和装置。

背景技术

本节说明了有用的背景信息，并非承认本文所述的任何技术表示现有技术。

本发明涉及一种半滑动轴承，该半滑动轴承以半瓦(half shell)形式生产，以便在两个半滑动轴承单元组合时形成圆柱形形状。

常规上，当以半瓦形式生产的半滑动轴承(该半瓦形式使得两个单元的组合将形成圆柱形形状)被安装在壳(housing)中时，它们的端部在分型线处可能不匹配，或者如果半滑动轴承的紧余量高度过大，滑动轴承可能在端部的分型线附近变形，并在径向方向向内膨胀，从而导致与轴的局部过盈(local interference)。可以提供紧余量消除装置(crush relief)，以纠正在半滑动轴承分型线处出现的局部变形或错位，并且其深度、长度等是根据壳的刚度、精度和工作状态来确定的。

周长(peripheral length)是半瓦式轴承最关键的特征之一。半瓦式轴承是基于轴承壳与轴瓦之间的径向压力来组装的。自由状态下的轴承周长大于轴承壳的圆周长度，而且通过将两个半瓦压到轴承壳上产生径向压力，使得周长差就被“压走”了。

轴承周长在组装状态与自由状态之间的差异被称为轴承测量高出度(nip)或紧余量高度。始终在壳上的试验压力下定义测量高出度。

传统情况下，轴承周长是通过测量高出度检查机或工具来测量的。这需要使用尺寸难以携带的专用设备或工具，并且需要轴承专用的检查块(checking block)。这种方法在现场情况下并不总是可行的。

因此，需要一种解决方案来实现滑动轴承紧余量高度的准确、易用和可靠测量。

发明内容

权利要求书中阐述了本发明示例的各个方面。

根据本发明的第一示例方面，提供了一种确定滑动轴瓦的紧余量高度的装置，所述装置包括：

光源，所述光源用于向所述滑动轴瓦形成照明光；

传感器设备，所述传感器设备被配置为拍摄图像；

至少一个存储器，所述至少一个存储器包括计算机程序代码；所述至少一个存储器和所述计算机程序代码被配置成与所述至少一个处理器一起使所述装置：

拍摄所述滑动轴瓦在第一模式下的第一图像，其中，在所述滑动轴瓦的周向方向上未形成外部压缩应力；

基于所拍摄的第一图像生成滑动轴承数据；

维护壳参考数据，所述壳参考数据至少包括用于容纳所述滑动轴瓦的孔的直径信息；以及

基于所述滑动轴承数据和所述壳参考数据确定所述滑动轴瓦的紧余量高度。

在一个实施方式中，所述滑动轴承数据包括以下项中的至少一项：所述滑动轴瓦的周向长度；所述滑动轴瓦的自由弹张量；滑动轴瓦形式；以及所述滑动轴瓦的厚度。

在一个实施方式中，所述至少一个存储器和所述计算机程序代码被配置成与所述至少一个处理器一起使所述装置：

基于所拍摄的第一图像确定所述滑动轴瓦的外侧周向长度；以及