[发明专利]准直仪、放射线探测装置及放射线检查装置

说明书

本发明提供能够将散射放射线进一步除去的准直仪、放射线探测装置及放射线检查装置。本发明的准直仪20具备：放射线屏蔽部22；和放射线透过部21，其放射线屏蔽率低于上述放射线屏蔽部22，所述放射线透过部将上述放射线屏蔽部22贯通，并且为实心。根据本发明的准直仪20，由于准直仪20的X射线透过部21是实心的，因此，在X射线透过部21中，由被检体B散射的低能量侧的X射线被吸收。因此，由放射线探测元件30探测到的X射线中包含的噪声少，能够得到分辨率高的X射线图像。

技术领域

本发明涉及准直仪、放射线探测装置及放射线检查装置。

背景技术

使用放射线以非破坏的方式对被检体进行检查的、例如X射线CT(计算机体层摄影，Computed Tomography)等放射线检查装置是对被检体照射放射线、基于透过被检体的放射线来生成CT图像的装置。

这样的放射线检查装置具备放射线产生装置和放射线探测装置。另外，照射至被检体的放射线在被检体中部分被散射。放射线探测装置探测到散射的放射线时，探测精度劣化。为了除去该散射放射线，在放射线探测装置中设置准直仪。

以往，准直仪中设置有供放射线透过的多个贯通孔。放射线从该贯通孔中通过时，以相对于贯通孔的中心轴而言规定角度以上的角度入射至贯通孔的放射线与贯通孔的侧壁碰撞。由于散射放射线(其使探测精度劣化)朝向各个方向，因此通过贯通孔时被除去，与未设置准直仪的情况相比，能够得到精度高的CT图像(例如参见专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2018-00496号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是，在通过贯通孔的放射线中，并非所有的散射放射线均被除去，而是包含一些散射放射线。

本发明的目的在于提供能够将散射放射线进一步除去的准直仪、放射线探测装置及放射线检查装置。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题，本发明提供以下的方案。

准直仪，其具备：放射线屏蔽部；和放射线透过部，其放射线屏蔽率低于上述放射线屏蔽部的放射线屏蔽率，所述放射线透过部将上述放射线屏蔽部贯通，并且为实心。

上述放射线透过部可以由可见光透过率高的材料制造。

上述放射线透过部可以由碳制造。

上述放射线屏蔽部可以由锡制造。

此外，为了解决上述课题，本发明还提供以下的方案。

准直仪，其具备：液态的放射线屏蔽部；放射线透过部，其放射线屏蔽率低于上述放射线屏蔽部的放射线屏蔽率，并将上述放射线屏蔽部贯通；和容器，其将上述放射线屏蔽部和上述放射线透过部密封。

另外，为了解决上述课题，本发明还提供以下的方案。

放射线探测装置，其具备：上述中任一项所述的准直仪；和探测元件，其与上述放射线透过部对应地配置。

此外，为了解决上述课题，本发明还提供以下的方案。

放射线检查装置，其具备：向被检体照射放射线的放射线产生部；上述中任一项所述的准直仪，其供透过上述被检体的放射线入射；和探测元件，其与上述放射线透过部对应地配置。

发明的效果

根据本发明，能够提供一种由于可不使用遮光板从而能够进一步简化制造工序并且能够更紧凑地制造的准直仪、放射线探测装置及放射线检查装置。

附图说明