[发明专利]一种刀具半径补偿的干涉检测方法、装置及存储装置

说明书

一种刀具半径补偿的干涉检测方法，包括：获取一条编程轨迹(505)；计算编程轨迹的刀具对侧边沿轨迹(52)；判断刀具对侧边沿轨迹是否与对比编程轨迹(502)相交；若刀具对侧边沿轨迹与对比编程轨迹相交，则判定编程轨迹与对比编程轨迹会相干涉。还涉及一种刀具半径补偿的干涉检测装置，还涉及一种具有存储功能的装置。刀具半径补偿干涉检测方法的准确性和实用性得到了提高。

技术领域

本申请涉及数控系统技术领域，特别是涉及一种刀具半径补偿的干涉检测方法、装置及具有存储功能的装置。

背景技术

刀具半径补偿是数控系统的基本功能之一，它实现了刀具中心沿偏离编程路径的轨迹移动的功能，偏移距离通常为一个刀具半径值，该功能极大地提高了数控系统编程的便捷性。在刀具补偿控制方法中，刀具半径补偿后的刀具运行路径经过的区域不能与原有工件路径相交，如果有相交出现就会切坏工件，这称为干涉，有切坏工件的危险。

请参阅图1和图2，图1是现有技术中干涉检测原理示意图，图2 是现有技术中干涉检测方法流程示意图。现有的对于刀补干涉检测的技术方案为判断偏置矢量是否相交，如相交则判断为相干涉，如不相交则判断为不相干涉。图1所示情况，偏置矢量a2与偏置矢量b2相交，会相干涉，其中10为编程路径，11为刀具中心轨迹。

本申请的发明人在长期的研发过程中，发现现有的干涉检测方法还不够完善，容易出现误判的情况，如当偏置矢量未与其他偏置矢量相交，而是直接与刀具中心轨迹相交时，采用上述方法判断结果为无干涉，但实际加工结果会相干涉，如图3所示，图3是现有技术中干涉检测方法的判断错误示例示意图，偏置矢量a1与偏置矢量a2与刀具中心轨迹相交，刀具会有干涉，其中30为编程路径，31为刀具中心路径。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种刀具半径补偿的干涉检测方法、装置及具有存储功能的装置，能够提高刀具半径补偿干涉检测方法的准确性和实用性。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种刀具半径补偿的干涉检测方法，该方法包括：获取一条编程轨迹；计算编程轨迹的刀具对侧边沿轨迹；判断刀具对侧边沿轨迹是否与对比编程轨迹相交；若刀具对侧边沿轨迹与对比编程轨迹相交，则判定编程轨迹与对比编程轨迹相干涉。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种刀具半径补偿的干涉检测装置，所述装置包括处理器和存储器，处理器耦接存储器；处理器在工作时，从存储器中获取一条编程轨迹；计算编程轨迹的刀具对侧边沿轨迹；判断刀具对侧边沿轨迹是否与对比编程轨迹相交；若刀具对侧边沿轨迹与对比编程轨迹相交，则判定编程轨迹与对比编程轨迹相干涉。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种具有存储功能的装置，该具有存储功能的装置存储有程序，所述程序被执行时实现上述的刀具半径补偿的干涉检测方法。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请所提供的方案，通过利用刀具对侧边沿轨迹与编程轨迹的位置关系，一步判断即可得到两条编程轨迹是否相干涉；利用了刀具的运动轨迹与编程轨迹的位置关系，补充了现有检测方法的判定漏洞，能够提高检测判断时的准确度，减小漏判误判的概率，同时还能够有效减少计算量，将极大地提升该检测方法的实用性。

附图说明

图1是现有技术中干涉检测原理示意图；

图2是现有技术中干涉检测方法流程示意图；

图3是现有技术中干涉检测方法的判断错误示例示意图；

图4是本申请刀具半径补偿的干涉检测方法第一实施方式的流程示意图；

图5是本申请本申请刀具半径补偿的干涉检测方法第一实施方式的应用示意图；

图6是本申请刀具半径补偿的干涉检测装置第一实施例的结构示意图；