[发明专利]使用效应T细胞(Teff)抗原受体的抗原特异性调节性T细胞(Treg)的制作技术在审
申请号: | 201880079385.1 | 申请日: | 2018-10-09 |
公开(公告)号: | CN111448312A | 公开(公告)日: | 2020-07-24 |
发明(设计)人: | 一户辰夫;山本卓;佐久间哲史;本庶仁子;川濑孝和;美山贵彦;铃木隆二 | 申请(专利权)人: | 国立大学法人广岛大学;组库创世纪株式会社 |
主分类号: | C12N15/09 | 分类号: | C12N15/09;A61K35/17;A61K39/00;A61P37/00;A61P37/06;A61P37/08;C12N5/0783;C12Q1/6869 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 李雪;陈万青 |
地址: | 日本广岛县东*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 效应 细胞 teff 抗原 受体 特异性 调节 treg 制作 技术 | ||
1.一种产生抗原特异性调节性T细胞的方法,包括:
针对在效应T细胞供体中的抗原特异性效应T细胞群中所存在的T细胞受体(TCR)克隆进行鉴定的步骤;以及
将所述克隆中所包含的TCRα基因的全部或部分核酸序列和TCRβ基因的全部或部分核酸序列引入调节性T细胞的步骤,该步骤以使得所述TCRα和所述TCRβ成对表达的方式进行引入。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,鉴定所述TCR克隆的步骤包括测定所述效应T细胞群的TCR库。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述TCR克隆以与所述效应T细胞群中的各克隆的存在频率的平均值相比大1个标准偏差以上的频率存在。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,所述TCR克隆以与所述效应T细胞群中的各克隆的存在频率的平均值相比大2个标准偏差以上的频率存在。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其中,所述TCR克隆在所述效应T细胞群中以大约10%以上的频率存在。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其中,所述TCRα的基因的全部或部分核酸序列包括与Vα-Jα的CDR3区相对应的序列。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其中,所述TCRβ的基因的全部或部分核酸序列包括与Vβ-D-Jβ的CDR3区相对应的序列。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其中,所述TCRα的基因的全部或部分核酸序列包括Vα-Jα-Cα的cDNA序列。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法,其中,所述TCRβ的基因的全部或部分核酸序列包括Vβ-D-Jβ-Cβ的cDNA序列。
10.根据权利要求2至9中任一项所述的方法,其中,所述TCR库的测定包括:
(1)提供核酸样品的步骤,所述核酸样品包含从所述效应T细胞群无偏差扩增的T细胞受体(TCR)的核酸序列;
(2)确定所述核酸样品中包含的所述核酸序列的步骤;以及
(3)基于已确定的所述核酸序列计算各基因的出现频率或其组合、从而导出所述效应T细胞群的TCR库的步骤。
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