[发明专利]珩磨机和珩磨机的应用有效
申请号: | 201880066672.9 | 申请日: | 2018-08-23 |
公开(公告)号: | CN111212704B | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 米夏埃尔·舒姆;亚历山大·舍费尔;曼努埃尔·格普费特;桑德罗·克里内斯 | 申请(专利权)人: | 舍弗勒技术股份两合公司 |
主分类号: | B24B33/04 | 分类号: | B24B33/04;B24B33/06;B24B33/08 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 丁永凡;刘刚 |
地址: | 德国黑措*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 珩磨机 应用 | ||
一种珩磨机(10),尤其切入式珩磨机,用于珩磨柱面、球面、锥面和/或圆锥面,尤其滚动轴承的部件,所述珩磨机设置有:加工刀具(16),其用于在相对于工件(14)的第一加工位处对工件(14)进行切削加工;和涡流检测探针(28),其用于在相对于工件(14)的第二加工位处对工件(14)进行裂纹检测和/或磨削烧伤检测,所述第二加工位尤其沿周向方向相对于第一加工位错开。通过将涡流检测探针(28)集成到珩磨机(10)中,能够实现低成本地制造和检测高精度表面。
技术领域
本发明涉及一种珩磨机以及一种珩磨机的应用,借助于珩磨机可以通过珩磨来切削加工柱面、球面、锥面和/或圆锥面。
背景技术
由EP 1 994 362 B1已知一种具有集成的测量系统的珩磨机,其中在测量系统的光学传感器与待检查的柱表面之间的中间空间通过透明液体填充。
一直需要能够以低成本制造高精度表面。
发明内容
本发明的目的是,阐明一种能够实现低成本地制造高精度表面的措施。
根据本发明,该目的通过一种具有如下特征的珩磨机以及一种珩磨机的应用来实现。本发明的优选的设计方案在以下说明中给出,其能够分别单独地或组合地表示本发明的一个方面。
根据本发明,珩磨机,尤其切入式珩磨机,用于珩磨柱面、球面、锥面和/或圆锥面,尤其滚动轴承的部件,所述珩磨机设置有:加工刀具,其用于在相对于工件的第一加工位处对工件进行切削加工;和涡流检测探针,其用于在相对于工件的第二加工位处对工件进行裂纹检测和/或磨削烧伤检测,所述第二加工位尤其沿周向方向相对于第一加工位错开。
涡流检测探针能够实施涡流检测,所述涡流检测能够实现在导电的工件中通过工件中的由线圈产生的交变磁场感应出涡流,并借助传感器探测通过涡流产生的磁场的涡流密度。涡流检测探针尤其可以测量探测到的信号相对于激励信号的振幅和相移,并且可以从测量值与合格零件的所储存的期望值的足够大的偏差中推断出裂纹形成和/或磨削烧伤。在此,利用以下知识:在工件中的裂纹以及磨削烧伤导致工件的导电性变化,这导致在工件中感应的涡流的磁场变化。尤其在此可以考虑,滚动轴承的部件通常由金属材料制成,该金属材料基本上是导电的,并且因此可以借助于涡流检测探针被无接触地测量。由此可以避免光学检测,并且避免与此相关的、无误差地实施光学检测的困难。
此外,通过将涡流检测探针集成到珩磨机中,不必在珩磨后从珩磨机中取出工件并将其插入单独的检测机中。因此,可以避免由于为了检测而重新定位工件而造成的表面损坏,使得降低了次品的风险。在此,利用以下知识:已经足够的是,将用于涡流检测探针的加工位沿周向方向相对于用于加工刀具的加工位错开,以便使加工刀具和涡流检测探针不会相互干扰。甚至原则上可行的是,加工刀具和涡流检测探针同时运行,使得在通过加工刀具对工件进行切削加工期间,涡流检测探针就已经能够检查工件的所产生的表面。这能够实现,通过加工刀具实施切削加工,直到涡流检测探针确定工件的足够质量,或者涡流检测探针确定不再能够达到期望的质量,例如由于工件损坏。因此可以将工件的切削加工减少到必要的最小程度,由此能够减少产品制造时间和/或加工刀具的磨损。通过将涡流检测探针集成到珩磨机中,能够实现低成本地制造和检测高精度表面。
为了进行涡流检测,尤其可以使工件可转动地保持在的同一位置,用于通过加工刀具进行加工的工件处于该位置。为此,第一加工位和第二加工位可以基本上仅在周向方向上彼此错开地定位在工件的侧面上。由此,对于工件的加工和检测可行的是,设有共同的加工站。在这种情况下,对于珩磨机优选仅设有恰好一个用于工件的加工站。但是,也可行的是,在通过加工刀具进行加工之后将工件尤其水平和/或竖直地置于珩磨机内的另一站上,使得在另一个站上的涡流检测探针可以实施涡流检测,而在前一个站上,下一个工件已经可以由加工刀具进行加工。涡流检测探针尤其可以在另一站上使用原本为另一加工刀具设有的轴系统。在这种情况下优选提出,在另一站上仅借助于涡流检测探针进行涡流检测。在此,利用如下知识:该轴系统的用于固定另外的加工刀具而设有的支臂的轴精度足以确保涡流检测探针在受控轨迹上的径向均匀的间距。
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