[发明专利]用于对测定珠成像的单次使用测试设备

权利要求书

1.一种测试设备，用于对测定珠成像，包括：

样本进入端口，用于接收生物样本；

样本接纳室，流体连接到样本进入端口；以及

样本测试导管，流体连接到样本接纳室，所述样本测试导管包括：(i)第一平面构件、(ii)第二平面构件以及(iii)具有预定的平均阱高度并部署在第一平面构件和第二平面构件之间的多个阱，

其中第二平面构件包括成像器芯片，所述成像器芯片包括像素阵列；以及

其中所述多个阱中的每一个与像素阵列中的一个或多个像素垂直对准。

2.如权利要求1所述的测试设备，其中，所述多个阱中的每一个具有从大约2μm至大约20μm的宽度。

3.如权利要求1所述的测试设备，还包括多个测定珠。

4.如权利要求3所述的测试设备，其中，所述多个测定珠中的至少一个测定珠部署在所述多个阱中的每一个中。

5.如权利要求3所述的测试设备，其中，所述多个测定珠包含试剂，所述试剂包括抗体、抗体片段、离子载体、酶、酶的集合、具有可裂解的可检测部分的肽或其组合。

6.如权利要求3所述的测试设备，其中，所述多个测定珠包括试剂，所述试剂包括识别测定珠的类型的光学标记染料。

7.如权利要求3所述的测试设备，其中，所述多个测定珠具有从大约0.1μm至大约20μm的直径。

8.如权利要求3所述的测试设备，其中，所述多个测定珠固定在所述多个阱中的每一个的一部分中。

9.如权利要求1所述的测试设备，其中，所述样本测试导管还包括多个间隔物元件，所述多个间隔物元件具有预定的平均间隔物高度并且部署在第一平面构件和第二平面构件之间，以形成在第一平面构件和第二平面构件之间延伸的具有预定的平均室高度的室。

10.如权利要求9所述的测试设备，其中，所述预定的平均阱高度加上所述预定的平均间隔物高度基本上等于所述预定的平均室高度。

11.如权利要求9所述的测试设备，其中，所述预定的平均间隔物高度基本上等于所述预定的平均室高度。

12.如权利要求1所述的测试设备，其中：

成像器芯片包括基板和光敏表面；

光敏表面包括像素阵列；以及

所述多个阱与光敏表面直接接触。

13.如权利要求12所述的测试设备，其中像素阵列包括至少5兆像素分辨率和至少150ppi像素密度。

14.如权利要求13所述的测试设备，其中阵列的每个像素的面积小于大约2μm²。

15.如权利要求1所述的测试设备，还包括位于样本测试导管上方的光发射器，其中该光发射器被配置为以从大约300nm至大约1000μm的一个或多个波长将光透射通过室到达成像器芯片。

16.如权利要求15所述的测试设备，还包括壳体，其中成像器芯片、样本测试导管和光发射器被容纳在壳体内。