[发明专利]用于测量直流/低频信号分量的系统、装置和方法

说明书

一种测试和测量探针系统(100，104)，包括：输入(106)，用于接收输入信号，该输入信号包括低频(LF)和/或直流(DC)分量以及交流(AC)分量；提取器电路(110)，诸如AC耦合电路或LF和/或DC抑制电路，其被配置为接收输入信号并且从输入信号中分离AC分量以及LF和/或DC分量；第一输出(118)，用于将交流分量输出到测试和测量仪器；以及第二输出，用于将直流分量输出到测试和测量仪器。在一些实施例中，LF和/或DC分量在由第二输出输出之前被数字化。

优先权

本公开要求于2017年7月14日提交的题为Systems, Devices, and Methods forMeasuring DC/LF Signal Components when Using DC Reject, AC Coupling or anIsolated Input 的美国临时申请No. 62/532,765的权益，该申请被通过引用在其整体上合并于此。

技术领域

本公开涉及与测试和测量系统相关的系统和方法，并且特别是涉及输出输入信号的交流分量以及直流和/或低频分量这两者的测试和测量探针系统。

背景技术

使用诸如示波器的测试和测量仪器来测量叠加在较大的变化的直流(DC)偏移分量上的低幅度交流(AC)信号通常要求使用AC耦合或DC抑制来提取AC信号并且抑制DC或低频(LF)分量。当将探针与诸如典型地被AC耦合的谱分析仪的测试和测量仪器一起使用时，AC耦合或DC抑制也可能是有用的。

当使用AC耦合或DC抑制拓扑时，DC/LF分量信号信息由于被阻断或抑制而丢失。然而，在电路的性能的整体分析(例如诸如功率分析)中，该信息可能是有用的或者是需要的。使用常规的测试和测量仪器，DC/LF分量信号信息丢失，造成测试和测量仪器的自动地执行的测量没有精确地表示真实的输入信号，因为DC/LF分量未被反映在自动执行的测量中。

为了对此进行补救，用户可能手动地调整测试和测量仪器上的探针偏移控制以对静态DC偏移进行清零，在自动执行的测量中这将被纳入考虑。然而，这样的过程是耗时的，并且可能仅对静态DC/LF分量起作用——也就是，对于动态DC/LF分量而言其将不起作用。进一步地，调整探针偏移控制还受测试和测量仪器的输入偏移范围的限制，输入偏移范围通常在电压上——尤其是在最灵敏的垂直增益设置方面——是受限制的。

本公开的实施例解决了现有技术的这些和其它缺陷。

附图说明

根据以下参照所附附图的对实施例的描述，本公开的实施例的方面、特征和优点将变得显而易见，在附图中：

图1是根据本公开的一些实施例的具有直流(DC)抑制电路的示例单端测试和测量探针系统的框图。

图2是根据本公开的其它实施例的具有DC抑制电路的另一示例差分测试和测量探针系统的框图。

图3是根据本公开的其它实施例的具有AC耦合电路的另一示例单端测试和测量探针系统的框图。

图4是根据本公开的其它实施例的具有DC抑制电路的另一示例单端测试和测量探针系统的框图。

图5是根据本公开的其它实施例的具有DC抑制电路的另一示例差分测试和测量探针系统的框图。

图6是根据本公开的其它实施例的具有AC耦合电路的另一示例单端测试和测量探针系统的框图。

图7是根据本公开的其它实施例的具有DC抑制电路的示例单端隔离测试和测量探针系统的框图。

图8是根据本公开的其它实施例的具有AC耦合电路的另一示例单端隔离测试和测量探针系统的框图。

图9是根据本公开的其它实施例的具有DC抑制电路的示例单端隔离测试和测量探针系统的框图。