[发明专利]微粒检测元件以及微粒检测器在审
申请号: | 201880057032.1 | 申请日: | 2018-08-02 |
公开(公告)号: | CN111051854A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 菅野京一;水野和幸;奥村英正 | 申请(专利权)人: | 日本碍子株式会社 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;G01N27/60 |
代理公司: | 北京旭知行专利代理事务所(普通合伙) 11432 | 代理人: | 王轶;陈东升 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 微粒 检测 元件 以及 检测器 | ||
微粒检测元件用于对气体中的微粒的数量进行检测,该微粒检测元件具备:壳体(12),其具有供气体通过的气体流路(13);电荷产生部(20),其对导入至壳体(12)内的气体中的微粒附加通过放电而产生的电荷,由此使该微粒形成为带电微粒;以及捕集部(40),其具有捕集电极(42),该捕集电极设置于壳体(12)内、且对带电微粒和未附加于微粒的电荷的任一者、即捕集对象进行捕集。壳体(12)在外周面和内周面的至少一方具有使得气体流路(13)的壁部在局部增厚的加强部(16)。
技术领域
本发明涉及微粒检测元件以及微粒检测器。
背景技术
以往,作为微粒检测器,已知如下微粒检测器,该微粒检测器具备:电荷产生元件,其对导入至壳体内的被测定气体中的微粒附加通过电晕放电而产生的电荷;以及测定电极,其对附加有电荷的微粒进行捕集(例如专利文献1)。对于该微粒检测器而言,基于测定电极捕集的微粒的电荷量而对微粒的个数进行测定。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:国际公开第2015/146456号小册子
发明内容
但是,对于这种微粒检测器而言,有时因水的附着所引起的热冲击、外力等而导致壳体变形。若壳体变形,则电荷产生元件放电时的电场分布会发生变化,从而有时产生的电荷的数量、电荷的空间分布等会发生变化。由此,有时附着于每一个微粒的电荷的数量会发生变化而导致测定精度下降。
本发明是为了解决这样的课题而完成的,其主要目的在于抑制壳体的变形。
本发明为了达成上述主要目的而采用了以下手段。
本发明的微粒检测元件用于对气体中的微粒进行检测,其中,
该微粒检测元件具备:
壳体,其具有供所述气体通过的气体流路;
电荷产生部,其对导入至所述壳体内的所述气体中的微粒附加通过放电而产生的电荷,由此使该微粒形成为带电微粒;以及
捕集部,其具有捕集电极,该捕集电极设置于所述壳体内、且对所述带电微粒和未附加于所述微粒的所述电荷的任一者、即捕集对象进行捕集,
所述壳体在外周面和内周面的至少一方具有使得所述气体流路的壁部在局部增厚的加强部。
对于该微粒检测元件而言,电荷产生部产生电荷而使得气体中的微粒形成为带电微粒,捕集电极对捕集对象(带电微粒和未附加于微粒的电荷的任一者)进行捕集。物理量根据捕集电极捕集的捕集对象而变化,因此,通过使用该微粒检测元件而能够对气体中的微粒进行检测。另外,壳体在外周面及内周面的至少一方具有加强部,因此,壳体的刚性增大而抑制了壳体的变形。此处,若壳体变形则电荷产生部放电时的气体流路中的电场分布会发生变化,从而有时微粒的检测精度会下降。通过抑制壳体的变形而能够抑制测定精度的下降。在该情况下,本发明的微粒检测元件也可以用于对所述气体中的所述微粒的量进行检测。“微粒的量”例如可以是微粒的数量、质量、表面积的至少任一者。
本发明的微粒检测元件可以形成为,所述壳体具有将所述气体流路分隔成多条分支流路的分隔部,所述捕集部在所述多条分支流路分别具有所述捕集电极。如此,分隔部发挥从内侧对壳体进行支承的支承部的作用,因此,能够利用加强部及分隔部进一步抑制壳体的变形。
本发明的微粒检测元件可以形成为,所述壳体具有埋设于该壳体、且对该壳体进行加热的加热器电极,所述加强部设置为使得所述壁部中的埋设有该加热器电极的部分在局部增厚。如此,通过使加热器电极发热,能够使例如附着于壳体的内周面、捕集电极的微粒燃烧,从而能够对微粒检测元件进行更新。另外,通过将加强部配设为使得壁部中的埋设有加热器电极的部分增厚,使得壳体中的加热器电极周围的热容量增大。由此,因与壳体接触的流体引起的加热器电极的温度变化得到抑制。
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