[发明专利]流体性质检测装置

权利要求书

1.一种流体性质检测装置，其用于检测收纳在外部装置中的检测对象流体的性质，其中，

该流体性质检测装置包括：

筒状的外侧电极；

棒状的内侧电极，其设于所述外侧电极的内侧；

运算部，其基于所述外侧电极和所述内侧电极之间的电特性来运算所述检测对象流体的性质值；

壳体，其安装于所述外部装置，用于保持所述外侧电极和所述内侧电极；

外侧绝缘构件，其设于所述壳体和所述外侧电极之间，用于将所述壳体和所述外侧电极绝缘，并且限定所述外侧电极相对于所述壳体的位置；以及

内侧绝缘构件，其设于所述外侧电极和所述内侧电极之间，用于将所述外侧电极和所述内侧电极绝缘，且将所述壳体和所述内侧电极绝缘，并且限定所述内侧电极相对于所述壳体的位置，

所述外侧电极的顶端部和所述内侧电极的顶端部自所述壳体突出，暴露于收纳在所述外部装置中的所述检测对象流体。

2.根据权利要求1所述的流体性质检测装置，其中，

该流体性质检测装置还包括电极罩，该电极罩安装于所述壳体，覆盖所述外侧电极的所述顶端部和所述内侧电极的所述顶端部。

3.根据权利要求2所述的流体性质检测装置，其中，

在所述外侧电极设有将所述外侧电极的内侧和外侧连通的电极通孔，

在所述电极罩设有将所述电极罩的内侧和外侧连通的罩通孔，

所述电极通孔和所述罩通孔位于与所述外侧电极的中心轴线正交的一条直线上。

4.根据权利要求3所述的流体性质检测装置，其中，

所述罩通孔的开口面积设定为所述电极通孔的开口面积以上的大小。

5.根据权利要求2所述的流体性质检测装置，其中，

所述电极罩是能够屏蔽电磁波的电磁屏蔽件，

所述内侧电极的顶端面和所述电极罩的与所述内侧电极的顶端面相对的相对面之间的最短距离大于所述内侧电极和所述外侧电极之间的最短距离。

6.根据权利要求2所述的流体性质检测装置，其中，

从所述内侧电极的顶端面到所述外侧电极的顶端面的轴向距离大于从所述内侧电极的外周面到所述外侧电极的内周面的径向距离。

7.根据权利要求2所述的流体性质检测装置，其中，

所述外侧电极具有：

圆筒状的外侧电极筒部；以及

外侧电极凸缘，其自所述外侧电极筒部的基端部向径向外方突出，

所述外侧绝缘构件具有：

圆筒状的外侧绝缘筒部；以及

外侧绝缘凸缘，其自所述外侧绝缘筒部的基端部向径向外方突出，

所述内侧绝缘构件具有：

圆筒状的内侧绝缘筒部；以及

内侧绝缘凸缘，其自所述内侧绝缘筒部的基端部向径向外方突出，

所述壳体具有：

筒部收纳开口部，其用于收纳与所述内侧电极的外周面接触的所述内侧绝缘筒部、与所述内侧绝缘筒部的外周面接触的所述外侧电极筒部、以及与所述外侧电极筒部的外周面接触的所述外侧绝缘筒部，该筒部收纳开口部与所述外侧绝缘筒部的外周面接触；

凸缘收纳开口部，其用于收纳所述外侧绝缘凸缘、与所述外侧绝缘凸缘的基端面接触的所述外侧电极凸缘、以及与所述外侧电极凸缘的基端面接触的所述内侧绝缘凸缘；以及

第1台阶部，其设于所述筒部收纳开口部和所述凸缘收纳开口部之间，与所述外侧绝缘凸缘的顶端面接触，

该流体性质检测装置还包括与所述内侧绝缘凸缘的基端面接触的安装构件。

8.根据权利要求7所述的流体性质检测装置，其中，

该流体性质检测装置还包括：

第1密封构件，其设于所述第1台阶部和所述外侧绝缘凸缘之间，用于将所述壳体和所述外侧绝缘构件之间密封；以及

第2密封构件，其设于所述外侧绝缘凸缘和所述外侧电极凸缘之间，用于将所述外侧绝缘构件和所述外侧电极之间密封。

9.根据权利要求7所述的流体性质检测装置，其中，

所述壳体具有向所述外部装置的安装孔插入的安装部，

在所述安装部设有与所述筒部收纳开口部相比内径较大的罩插装开口部，且该罩插装开口部与所述筒部收纳开口部设于同一轴线上，

所述电极罩插装于所述罩插装开口部，

所述外侧绝缘筒部的顶端不自所述筒部收纳开口部的在所述罩插装开口部和所述筒部收纳开口部之间的第2台阶部形成的开口面突出。