[发明专利]用于表面测量仪的容纳设备

说明书

本发明涉及用于特别是光学的表面测量仪(1)的容纳设备(2)。该容纳设备具有基准测量面(4)，其可被置于遮盖状态中和开放状态中，在遮盖状态中基准测量面相对容纳设备(2)的周围环境得到遮盖，在开放状态中基准测量面相对容纳设备(2)的周围环境未得到遮盖。当表面测量仪(1)容纳在容纳设备(2)中并且基准测量面(4)处于开放状态中时，表面测量仪(1)能实施对基准测量面(4)的基准测量并通过利用该基准测量实施对表面测量仪(1)的校准。而当基准测量面(4)处于遮盖状态中时，它相对容纳设备(2)的周围环境未暴露并且因此得到保护例如免受灰尘、光线、湿气的影响或机械方面的影响。优选通过基准测量面(4)本身的运动或通过用于基准测量面(4)的盖板的运动实现基准测量面(4)的遮盖状态或者开放状态。

技术领域

优先权申请DE 10 2017 211 067.8的所有内容以此通过参考成为本申请的组成部分。

本发明涉及一种用于表面测量仪的容纳设备。

下面以用于确定表面光学特性的表面测量仪为例对本发明进行说明。然而这并不构成限制。本发明同样可以应用在其它表面测量仪上，例如用于确定表面的机械特性、化学特性或物理的然而不是光学的特性。

背景技术

需确定的表面光学特性例如是表面的光泽、颜色、“Haze”(雾度)、图像清晰度、“Distinctness of Image”(鲜映度)或“Orange Peel”(用于波度的标准)。主要在例如家具或汽车的光学表面如涂漆部的质量保证中测量和控制这样的表面特性。

光学表面测量仪优选具有至少一个光源，该光源的光线能够穿过表面测量仪壳体中的开口指向测量面，也就是说指向需测量的表面的部分区域，所述光学表面测量仪以及具有至少一个探测器，该探测器接收由测量面反射的光线。光源优选是发光二极管。也可以设置有多个光源和/或多个探测器，它们分别优选与测量面成不同的角度设置。为了测量，将表面测量仪优选放到测量面上。

通过在考虑到由光源发出的光线的情况下对由探测器接收的光线的分析评估，然后可以确定相应的光学特性。为了实施测量并对其进行分析评估，表面测量仪具有相应的电子控制和分析评估系统。

在调试时以及在确定的时间间隔内必须对所观察类型的表面测量仪进行校准，以保证高测量精度。适宜地通过测量所谓的基准测量面进行校准，所述基准测量面是具有精确限定的表面特性、例如精确限定的颜色的检测标准。例如由联邦材料研究所(BAM)或由联邦物理技术研究院(PTB)作为所谓的主标准(Master-Standard)或作为借助主标准校准的所谓的传递标准(Transfer-Standard)提供标准化的、符合有关国际标准的检测标准。通过在必要时多次经由传递标准的推导，最后为表面测量仪的使用者提供所谓的作业标准，该作业标准可以追溯到相应的国际标准。该作业标准则能够在表面测量仪的使用寿命期间通过如下方式用于校准该表面测量仪，即，实施对属于作业标准的基准测量面的基准测量。

所观察类型的表面测量仪常常与附属的容纳设备、也称为“Docking Station”(扩充口)一起供货。表面测量仪能够放入或插入容纳设备中并且优选经由电触点亦或无线地建立与容纳设备的连接。容纳设备又优选与电网和/或与计算机或数据网络连接。

容纳设备于是提供确定的功能：特别是优选通过电触点或感应地为表面测量仪中的蓄电池充电；检测表面测量仪的运行状态；和/或表面测量仪与容纳设备之间的数据传输、优选从表面测量仪到容纳设备的测量数据传输；和/或表面测量仪与容纳设备之间的控制指令的传输。优选同样经由电触点、特别是经由USB接口和进一步优选经由WLAN无线地进行数据传输。

此外已知的是：将具有基准测量面的检测标准集成到这样的容纳设备中。一旦将表面测量仪放入容纳设备中，该表面测量仪就自动占据一位置，在该位置中基准测量面位于表面测量仪的测量开口前，使得在这个位置中能够实施对基准测量面的基准测量。于是可以利用基准测量来实施对表面测量仪的校准。