[发明专利]膜、膜的光学均质性的评价方法及膜的制造方法有效

专利信息
申请号: 201880036712.5 申请日: 2018-05-30
公开(公告)号: CN110709451B 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 野殿光纪;唐泽真义;岸田明子;牧寺雅巳;池内淳一 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: C08J5/18 分类号: C08J5/18;C08G73/10;G01N21/88;G01N21/958
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 杨宏军;唐峥
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 均质性 评价 方法 制造
【说明书】:

本发明提供适合作为图像显示装置中的光学膜使用的、具有优异光学均质性的膜及该膜的制造方法。另外,本发明提供能够以比现有的评价方法更高的精度对膜的光学均质性进行评价的评价方法。本发明的膜为包含重均分子量为20万以上的树脂的流延膜,将对使用该膜由投影法得到的投影图像进行傅里叶变换而得到的膜逆空间图像中彼此正交的方向h及方向v的线轮廓分别设为线轮廓h及线轮廓v,将对在所述投影法中以不使用所述膜的方式得到的背景图像进行傅里叶变换而得到的背景逆空间图像中彼此正交的方向h’及方向v’的线轮廓分别设为线轮廓h’及线轮廓v’,将从线轮廓h减去线轮廓h’而得到的线轮廓(h‑h’)的最大强度设为Ymh,将从显示出最大强度Ymh的频率减去经空白校正的线轮廓中的总频率的中央值Xcen而得到的值Xmax设为Xmh,将从线轮廓v减去线轮廓v’而得到的线轮廓(v‑v’)的最大强度设为Ymv,将从显示出最大强度Ymv的频率减去经空白校正的线轮廓中的总频率的中央值Xcen而得到的值Xmax设为Xmv时,Ymh及Ymv均为30以下,Ymh、Ymv、Xmh及Xmv满足特定式子。

技术领域

本发明涉及膜、膜的光学均质性的评价方法及膜的制造方法。

背景技术

对于在液晶显示装置、有机EL显示装置等图像显示装置中使用的光学膜而言,由于使用者介由该光学膜而直接以目视方式观看所显示的图像,因此要求非常高的光学均质性。

作为这样的光学膜的制造方法,使用了下述方法:将含有挥发性溶剂和构成光学膜的树脂的溶液涂布于基材上,进行干燥,然后剥离(例如,专利文献1)。在这样的伴有涂布及干燥的制造方法中,根据涂布条件、干燥条件的不同,有时会产生厚度不均及取向不均。膜即使在具有目视无法确认那样的水平的不均的情况下,当最终作为图像显示装置中的光学膜进行了组装时,有时也因该不均而导致光学均质性受损、观看到图像的畸变等。因此,对于在图像显示装置中作为光学膜使用的膜,要求目视不易确认的水平的极高精度的均质性。因此,仍然存在针对进一步提高膜的光学均质性的要求。

作为抑制了膜的不均的光学膜,例如专利文献1中记载了下述聚酰亚胺系光学膜:在从聚酰亚胺系光学膜的投影图像切取的矩形区域中,灰度(gray scale)的标准偏差σ以及该矩形区域的二值化图像的黑色部分的面积被调节至规定的范围内。专利文献2中记载了膜面内的透射光的亮度的不均以标准偏差计为平均亮度的15%以内的光学用透明膜。专利文献3中记载了基于边缘(fringe)投影法的形状测定方法,即,将来自光源部的光照射至方格板,并将透过该方格板的光作为方格图像进行投影,对该方格图像进行拍摄,根据方格图像的畸变将被测定物的三维系形状进行数值化。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:国际公开第2016/152459号

专利文献2:日本特开平9-48866号公报

专利文献3:日本特开2011-226871号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是,上述专利文献中记载的方法均不能被称为足以以在图像显示装置中作为光学膜使用的膜所要求的极高精度对膜的光学均质性进行评价的方法。就专利文献1中记载的方法而言,由于是在1cm×5cm的分析区域内进行的评价,因此并非能够对由纵向上产生的不均引起的光学均质性的降低进行充分评价的方法。专利文献2中记载的方法并非能够精度良好地对由透射光的亮度差小的、浓淡浅的不均引起的光学均质性的降低进行评价的方法。

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