[发明专利]位置检测装置和位置检测方法有效

专利信息
申请号: 201880023267.9 申请日: 2018-03-01
公开(公告)号: CN110494716B 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 成田哲也;藤田雅博 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G01D5/245 分类号: G01D5/245
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王萍;唐明英
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 位置 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种位置检测装置,包括:

参考位置计算单元,其基于第一信号和第二信号来计算移动体的参考位置,所述第一信号是从设置在所述移动体上的并且包括具有预定数目的周期的标度的第一轨道检测到的,并且所述第二信号是从设置在所述移动体上的并且具有如下标度的第二轨道检测到的:该标度具有数目比所述预定数目的周期少的周期;

狭缝指定单元,其基于所述参考位置来指定多个狭缝中的与所述移动体的位置相对应的狭缝,所述多个狭缝是通过划分所述移动体的移动范围而获得的;

狭缝内位置计算单元,其基于所述第一信号来计算所述移动体在所指定的所述狭缝中的狭缝内位置;

检测单元,其基于所述参考位置与所述移动体的绝对位置之间的差异来检测所述参考位置与所述绝对位置之间是否出现位置偏离,所述绝对位置是基于所指定的所述狭缝和所述狭缝内位置而计算出的;以及

第一校正单元,其在所述检测单元检测到出现所述位置偏离的情况下,基于所述差异确定出现计算误差的狭缝的数目,并且基于所述狭缝的数目来校正所述移动体的绝对位置。

2.根据权利要求1所述的位置检测装置,其中,所述第一信号包括相位差为90°的两个正弦波,并且所述第二信号包括相位差为90°的两个正弦波。

3.根据权利要求2所述的位置检测装置,其中,所述参考位置计算单元根据第一值与第二值之间的差异来计算所述参考位置,所述第一值是通过计算所述第一信号的所述两个正弦波的反正切2而获得的,并且所述第二值是通过计算所述第二信号的所述两个正弦波的反正切2而获得的。

4.根据权利要求1所述的位置检测装置,其中,在所述差异大于所述第一轨道的标度的周期的一半的情况下,所述检测单元检测到出现所述位置偏离。

5.根据权利要求2所述的位置检测装置,其中,所述狭缝内位置计算单元基于通过计算所述第一信号的所述两个正弦波的反正切2而获得的第一值来计算所述狭缝内位置。

6.根据权利要求1所述的位置检测装置,还包括计算所述移动体的所述绝对位置的绝对位置计算单元。

7.根据权利要求1所述的位置检测装置,还包括:

检测所述第一信号的第一信号检测单元;以及

检测所述第二信号的第二信号检测单元。

8.根据权利要求1所述的位置检测装置,还包括:

区域指定单元,其基于所述参考位置来指定多个区域中的与所述移动体的位置相对应的区域,所述多个区域是通过划分所述移动体的移动范围而获得的;

区域内位置计算单元,其基于所述第一信号和第三信号来计算所述移动体在所指定的所述区域中的区域内位置,所述第三信号是从设置在所述移动体上的并且具有如下标度的第三轨道检测到的:该标度具有数目比所述预定数目的周期少的周期;以及

第二校正单元,其基于所述移动体的第二绝对位置和所述参考位置对所述第二绝对位置进行校正,所述第二绝对位置是基于所指定的所述区域和所述区域内位置而计算出的,

其中,所述第一校正单元使用所述第二绝对位置代替所述参考位置,基于所述第二绝对位置和所述绝对位置对所述绝对位置进行校正。

9.根据权利要求8所述的位置检测装置,还包括第二检测单元,所述第二检测单元基于所述参考位置与所述第二绝对位置之间的差异来检测所述参考位置与所述绝对第二位置之间是否出现位置偏离,

其中,在所述第二检测单元检测到出现所述位置偏离的情况下,所述第二校正单元基于所述差异对所述第二绝对位置进行校正。

10.根据权利要求8所述的位置检测装置,其中,所述区域内位置计算单元根据第一值与第三值之间的差异来计算所述区域内位置,所述第一值是通过计算所述第一信号的两个正弦波的反正切2而获得的,并且所述第三值是通过计算所述第三信号的两个正弦波的反正切2而获得的。

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