[发明专利]光检测器

说明书

受光阵列部(31)接受从照射部照射并被物体反射的反射光，并且并列地输出从多个受光部(80c)分别输出的脉冲信号。计时部(33c)计测从被输入表示照射部照射光的定时的照射定时信号起的经过时间。响应获取部(34)按照每个恒定周期的定时，获取多个受光部中的正在输出脉冲信号的受光部的数量亦即响应数，并且输出从响应数中减去或者除以偏差值而得到的调整响应数。存储器(6)将地址与由计时部计测的计时值建立对应关系。直方图生成部(52)累计调整响应数并储存至根据计时部中的计时值确定的存储器的地址，来作为该地址的数据。

相关申请的交叉引用

本国际申请主张基于在2017年3月29日向日本专利厅申请的日本专利申请第2017－065325号以及在2018年1月26日向日本专利厅申请的日本专利申请第2018－011556号的优先权，通过参照将日本专利申请第2017－065325号以及日本专利申请第2018－011556号的全部内容引用至本国际申请。

技术领域

本公开涉及检测到来的光的技术。

背景技术

已知有使用排列有多个SPAD的SPAD阵列，通过计数从被入射光子的各个SPAD输出的脉冲信号的数量(以下，响应数)来检测受光强度的光检测器。SPAD是Single PhotonAvalanche Diode(单光子雪崩二极管)的缩写。SPAD是以盖革模式动作并能够检测单个光子的入射的雪崩光电二极管。

在专利文献1中，记载有作为在照射光之后，在由光检测器检测的响应数为触发阈值以上的情况下接受到反射光的结构，计测从照射到受光为止的光的飞行时间(以下，TOF)，根据该计测出的TOF求出到反射光的物体的距离的技术。TOF是Time Of Flight(飞行时间)的缩写。另外，为了除去入射至SPAD阵列的干扰光等的影响，进行反复实施TOF的计测，创建按照每个计测时间累计了响应数的直方图，并将根据直方图的极大值获得的时间用于距离的计算的处理。

专利文献1：日本特开2014－81254号公报

然而，根据发明人进行详细研究的结果，在专利文献1所记载的现有技术中，发现了以下的课题。即，在干扰光较强的情况下，通过各个计测检测的响应数增加，所以直方图中的累计值也增大。为了防止该累计值的溢出，作为存储累计值的存储器，需要准备数据区域的位宽充分大的存储器、即存储容量较大的存储器。

发明内容

本公开提供在对光的飞行时间的计算使用直方图的激光雷达中，与现有技术相比能够减少储存直方图的存储器的容量的技术。

作为本公开的一个方式的光检测器具备受光阵列部、计时部、响应获取部、存储器以及直方图生成部。

受光阵列部具有响应于光子的入射来输出脉冲信号的多个受光部，接受从照射部照射并被物体反射的反射光，并且并列地输出从多个受光部分别输出的脉冲信号。计时部计测从被输入表示照射部照射光的定时的照射定时信号起的经过时间。响应获取部按照每个恒定周期的定时，获取多个受光部中的正在输出脉冲信号的受光部的数量亦即响应数，并且输出从响应数中减去或者除以预先设定的偏差值而得到的调整响应数。存储器将地址与由计时部计测的计时值建立对应关系。直方图生成部累计调整响应数并储存至根据计时部中的计时值确定的存储器的地址，来作为该地址的数据。

根据这样的结构，在通过累计调整响应数生成直方图时，由于累计成为比响应数小的值的调整响应数，所以与直接累计响应数的情况相比，能够减少存储器的容量。

此外，权利要求书中所记载的括号内的附图标记表示与作为一个方式后述的实施方式中所记载的具体的单元的对应关系，并不是限定本公开的技术范围的内容。

附图说明

图1是表示第一实施方式的激光雷达的结构的框图。

图2是例示与计测出的时间建立对应关系地累计响应数而成的直方图的图。