[实用新型]一种基于P波的折射率测量系统有效
申请号: | 201822232498.0 | 申请日: | 2018-12-28 |
公开(公告)号: | CN209589838U | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 张杨杰;黄旭光 | 申请(专利权)人: | 华南师范大学 |
主分类号: | G01N21/43 | 分类号: | G01N21/43;G01N21/01 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 林丽明 |
地址: | 510631 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 棱镜 采集装置 光电探测 载物池 折射率测量系统 激光产生装置 终端 偏振片 入射 采集 本实用新型 电压传输 电压计算 信号转换 侧面 出射光 待测物 菲涅尔 折射率 反射 激光 折射 转换 | ||
本实用新型涉及一种基于P波的折射率测量系统,包括激光产生装置、偏振片、载物池、设置在载物池上的棱镜、光电探测采集装置及终端;在使用时,激光产生装置产生的激光经过偏振片后形成P波,形成的P波通过棱镜的一个侧面入射进棱镜,P波在棱镜与载物池内的待测物之间发生菲涅尔反射,然后通过棱镜的另一侧面折射出棱镜,棱镜的出射光入射至光电探测采集装置,光电探测采集装置进行信号的采集,并将采集的信号转换成对应电压传输至终端,终端根据转换的电压计算得到折射率。
技术领域
本实用新型涉及一种折射率测量系统,具体涉及一种基于P波的折射率测量系统。
背景技术
折射率是表征物质性质的一个重要光学参数,同时折射率也反应了物质的某些内在性质,有助于理解物质结构。精确测量某种物质折射率,在食品、医药、饮料、化工相关工业领域有着重要意义和广泛应用,但现如今,应用于物质折射率测量的主要方法有波动光学和几何光学法如:牛顿环法、布儒斯特角法、掠入射法、最小偏向角法等,以上方法,需要对被测物质进行复杂的加工,光路调节复杂,实际可重复性低,灵敏度低,测量多为透明物质。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了克服上述现有技术存在的不足之处,而提出了一种基于P波的折射率测量系统,该折射率测量系统可以使测量折射率的过程中的操作变得简单,可重复性强,成本低,测量灵敏度高,满足可测透明与半透明物质折射率的要求。
为解决上述的技术问题,本实用新型所采用的技术方案是:一种基于P波的折射率测量系统,包括激光产生装置、偏振片、载物池、设置在载物池上的棱镜、光电探测采集装置及终端;在使用时,激光产生装置产生的激光经过偏振片后形成P波,形成的P波通过棱镜的一个侧面入射进棱镜,P波在棱镜与载物池内的待测物之间发生菲涅尔反射,然后通过棱镜的另一侧面折射出棱镜,棱镜的出射光入射至光电探测采集装置,光电探测采集装置进行信号的采集,并将采集的信号转换成对应电压传输至终端,终端根据转换的电压计算得到折射率。
进一步的,在使用时,所述激光产生装置产生波长为650nm的激光。
进一步的,所述激光产生装置包括激光器和精密角度旋转器,所述激光器用于产生激光,所述精密角度旋转器用于对激光器的旋转角度进行调节。
进一步的,所述激光产生装置还包括有电源,所述电源用于对激光器进行供电。
进一步的,所述光电探测采集装置包括光电探测电路板和数据采集卡,数据采集卡用于进行信号的采集,光电探测电路板用于将采集的信号转换成对应电压传输至终端。
进一步的,所述载物池底部开设有排孔。
进一步的,所述终端为电脑。
进一步的,所述光电探测电路板通过USB接口与终端连接。
本实用新型提供的折射率测量系统,可靠实用,科学可行,设备简单,无需对待测物做任何加工改变,可重复性强,操作简单,测量灵敏度高,可用于透明、半透明液体或胶体等物质折射率测量。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为光强反射率曲线图;
图3为折射率增大时P波的反射比曲线状态图;
图4为入射角不变时Rp随n2变化曲线状态图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南师范大学,未经华南师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201822232498.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。