[实用新型]一种对激光测距机轴线位置进行检测的装置有效

专利信息
申请号: 201822169469.4 申请日: 2018-12-24
公开(公告)号: CN209373102U 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: 张祥伟;时凯;陶禹;马群;陈玉娇;龚昌妹 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 可调光衰减器 本实用新型 激光测距机 轴线位置 光吸收 衰减 激光 光衰减系统 后处理系统 后端处理器 激光束轴线 光斑 测量系统 反射式光 高能激光 光栅型光 后向反射 扩束系统 吸收系统 应用场景 质心位置 数据处理 反射式 抗损伤 衰减器 检测 减小 入射 算法 紧凑
【说明书】:

实用新型提出一种对激光测距机轴线位置进行检测的装置,该系统由扩束系统、光衰减系统、光吸收系统、CCD以及后处理系统等组成,采用抗损伤阈值更高的反射式衰减;后向反射的大部分激光由光吸收系统进行处理;通过反射式光衰减器后,入射到一个可调光衰减器上,对光进行不同程度的衰减;透过可调光衰减器的激光被CCD所接收;后端处理器将CCD接收到的光斑进行数据处理,然后利用算法精确定位质心位置,从而可以确定激光束轴线的位置。本实用新型采用新型的光栅型光吸收系统对高能激光进行处理,因此可大大减小系统的体积,使得整个测量系统更加紧凑,可以适应更多的应用场景。

技术领域

本实用新型涉及激光测距应用技术领域,具体涉及一种对激光测距机轴线位置进行检测的装置。

背景技术

激光测距系统是目前军用光电设备中重要的组成部分,激光测距机的测距精度与激光测距机的激光发射轴、激光接收轴和观察瞄准轴的平行性有着至关重要的联系,只有保证了三光轴的平行性才能保证激光测距机的测距精度,实现其快速、准确地测量目标距离。

目前,高能脉冲激光测距机光轴的检测一般采用“激光打点法”,即专业人员根据激光测距机所采用的校正调整方式,每调整一次,调整镜就通过“激光打点法”观察激光斑点与瞄准光轴十字分划中心是否重合来检查一次调整效果,直到激光斑点与分划中心符合要求为止。由于光轴校正涉及的问题比较多,一般都是在工厂或修理所由经验丰富的专业人员根据经验操作。伴随着武器科技含量的不断提高,武器装备变得越来越复杂,对装备的维护保养和性能检测提出了更高的要求,数字智能化检测已成为各类新型武器装备的发展趋势。而对激光测距机光轴的校正仍然存在智能化程度不高等问题。

因此,如何精确地可视化地定位高能脉冲激光测距机光轴位置,就成了亟待解决的问题。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型提出一种对激光测距机轴线位置进行检测的装置,其可对高能激光测距机轴线位置进行高精度自动化检测,其检测系统重量轻,结构紧凑。

为解决现有技术存在的问题,本实用新型的技术方案是:一种高能脉冲激光测距机光轴检测系统,其特征在于:包括脉冲激光器、扩束镜组、衰减片、光吸收装置、可调光衰减器、CCD和数据处理系统;

所述的脉冲激光器、扩束镜组、衰减片、可调光衰减器和CCD依次沿光轴方向设置,光吸收装置设置于衰减片的下方,数据接收系统设置于CCD后端用于接收CCD光斑进行数据处理;

所述的光吸收装置包括蓝宝石片、TEC和散热片;所述的蓝宝石片、TEC和散热片依次粘接于一体;

所述的衰减片为反射式衰减片,衰减片基底为100晶向GaAs衬底,衬底表面设置若干层反射薄膜,反射薄膜的高低折射率材料为SiO2/HfO2,生长的对数为12对;

所述的光吸收装置为亚波长金属光栅,金属光栅材料为金属Au,光栅周期小于入射的光波波长,金属光栅光栅条的方向与激光的偏振方向完全相同,所述的蓝宝石片的衬底片大小与激光束尺寸相等。

所述的脉冲激光器为发射半导体激光器。

与现有技术相比,本实用新型的优点如下:

1)本实用新型所设计激光测距机轴线位置标定装置,可以对高脉冲能量激光测距机的轴线进行标定,整体结构简单、紧凑。

2)本实用新型采用亚波长金属光栅对反射光进行处理,可以最大限度的吸收反射光波,抗激光损伤阈值高,结构简单,成本低。

附图说明

图1 为高能激光脉冲激光测距机光轴检测原理框图;

图2为高能激光脉冲激光测距机光轴检测原理图;

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